特許
J-GLOBAL ID:200903001616249144

レーザ測量装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三浦 邦夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-223248
公開番号(公開出願番号):特開平8-086650
出願日: 1994年09月19日
公開日(公表日): 1996年04月02日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 ハーフミラーとミラーとでなす角度の調整をなくして反射時の精度を向上させ、さらにハーフミラーを透過して投光されるレーザ光束が回転ビームとなる等の問題を生じさせないレーザ測量装置を提供する。【構成】 光学部材は、レーザダイオード23からのレーザ光束が入射する光入射面35cと,この光入射面35cから入射したレーザ光束L1 が入射する、半透膜14を設けた第1の反射面35aと;この第1の反射面35aで反射された光束を反射する、第1の反射面35aとで45 ゚をなす第2の反射面35bと;この第2の反射面35bで反射した光束が出射する光出射面35dと;を有するペンタプリズム35;及び、このペンタプリズム35の第1の反射面35aに半透膜14を挟んで貼着された、光入射面35cと平行な第2の光出射面35dを有する楔型プリズム34;から成るレーザ測量装置。
請求項(抜粋):
レーザ光源からのレーザ光束を光学部材で反射させて回転照射し、基準平面を形成するレーザ測量装置において、上記光学部材は、上記レーザ光源からのレーザ光束が入射する光入射面と;この光入射面から入射したレーザ光束が入射する、半透膜を設けた第1の反射面と;この第1の反射面で反射された光束を反射する、第1の反射面とで45 ゚をなす第2の反射面と;この第2の反射面で反射した光束が出射する光出射面と;を有するプリズム;及び、このプリズムの第1の反射面に上記半透膜を挟んで貼着された、上記光入射面と平行な第2の光出射面を有する楔型プリズム;から構成されていることを特徴とするレーザ測量装置。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • レーザ測量機
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-156110   出願人:株式会社トプコン

前のページに戻る