特許
J-GLOBAL ID:200903001647986198
粒子分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西野 卓嗣
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-102930
公開番号(公開出願番号):特開平8-261912
出願日: 1995年03月22日
公開日(公表日): 1996年10月11日
要約:
【要約】【目的】 粒子の多少に関わらず、効率的に粒子分析することができる、コンパクトな粒子分析装置を提供する。【構成】 粒子信号を計数する粒子計数手段と、その計数値が規定計数値に達したことを検出するための計数値検出手段と、その検出に基づき粒子計数時間を測定するための時間測定手段と、その粒子計数時間に基づき測定試料中の粒子数を算出するための演算手段と、粒子信号から所定の特徴パラメータを抽出する特徴パラメータ抽出手段と、上記粒子計数時間中、特徴パラメータを蓄積し粒度分布を得るための粒度分布作製手段を備えたことを特徴とする。
請求項(抜粋):
粒子信号を計数する粒子計数手段と、その計数値が規定計数値に達したことを検出するための計数値検出手段と、その検出に基づき粒子計数時間を測定するための時間測定手段と、その粒子計数時間に基づき測定試料中の粒子数を算出するための演算手段と、粒子信号から所定の特徴パラメータを抽出する特徴パラメータ抽出手段と、上記粒子計数時間中、特徴パラメータを蓄積し粒度分布を得るための粒度分布作製手段を備えたことを特徴とする粒子分析装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 15/02 D
, G01N 15/00 B
引用特許:
審査官引用 (1件)
-
免疫学的測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-325032
出願人:興和株式会社
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