特許
J-GLOBAL ID：200903001840323309

マイクロ波放射計

発明者：
早澤 賢一郎

早澤 賢一郎 について

, 
瀬在 俊浩

瀬在 俊浩 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について

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独立行政法人 宇宙航空研究開発機構

独立行政法人 宇宙航空研究開発機構 について


代理人 (5件)： 曾我 道照 ,  曾我 道治 ,  古川 秀利 ,  鈴木 憲七 ,  梶並 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-350132
公開番号（公開出願番号）：特開2006-162287
出願日： 2004年12月02日
公開日（公表日）： 2006年06月22日
要約：
【課題】電波吸収体の表面温度差を大きく改善することができるマイクロ波放射計を得る。【解決手段】構体1上に、地球から放射されるマイクロ波を受ける主反射鏡、深宇宙からのマイクロ波を受ける低温校正用反射鏡、表面温度差を大きく改善する電波吸収体が複数個並べられた高温校正源3、並びに前記主反射鏡、前記低温校正用反射鏡及び前記高温校正源からのマイクロ波を受信する一次放射器2が設けられたマイクロ波放射計であって、構体1の上面で高温校正源3に対向する箇所に設け、前記電波吸収体と放射熱結合を持つ白色面5と、白色面5の温度を検出する温度センサ13と、白色面5を加熱するヒーター12と、温度センサ13によって検出された温度に基づいて白色面5が一定の温度になるようにヒーター12を制御するヒーターコントローラ11とを設けた。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
構体上に、地球からのマイクロ波を受ける主反射鏡、深宇宙からのマイクロ波を受ける低温校正用反射鏡、温度が一定に制御された電波吸収体が複数個並べられた高温校正源、並びに前記主反射鏡、前記低温校正用反射鏡及び前記高温校正源からのマイクロ波を受信する一次放射器が設けられたマイクロ波放射計であって、 前記構体の上面で前記高温校正源に対向する箇所に設け、前記電波吸収体と放射熱結合を持つ白色手段と、 前記白色手段の温度を検出する第1の温度センサと、 前記白色手段を加熱する第1のヒーターと、 前記第1の温度センサによって検出された温度に基づいて前記白色手段が一定の温度になるように前記第1のヒーターを制御する第1のヒーターコントローラと を備えたことを特徴とするマイクロ波放射計。
IPC (1件)：
G01J 5/46
FI (1件)：
G01J5/46
Fターム (8件)：
2G066AA13 ,  2G066BA10 ,  2G066BA25 ,  2G066BA41 ,  2G066BB11 ,  2G066CA15 ,  2G066CA20 ,  2G066CB02
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)
引用文献：
審査官引用 (2件)

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