特許

J-GLOBAL ID：200903001906795193

メッシュチェック方法

発明者： 倉本 成史 ,  鳥淵 浩伸 ,  若槻 伸治 ,  佐々木 令晋 ,  大田 良絵 ,  山路 正和
出願人/特許権者： 株式会社日本触媒
代理人 (1件)： 松本 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-182141
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005847
出願日： 2000年06月16日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】 簡便かつ正確に、しかもチェック操作によって損傷したりすることなく、メッキむらや損傷等により生じるふるいのメッシュ面を構成する多数の孔の孔径差の有無を確認することができる、メッシュチェック方法を提供する。【解決手段】 ふるいのメッシュ面を構成する多数の孔の孔径差の有無を確認する方法であって、前記メッシュ面に光を照射し、該メッシュ面と光線とのなす角度を変化させながら、前記ふるいをメッシュ面上で回転させて、個々の孔を通過する光量の相対変化を観測することにより、孔径差を検出する。

請求項（抜粋）：

ふるいのメッシュ面を構成する多数の孔の孔径差の有無を確認する方法であって、前記メッシュ面に光を照射し、該メッシュ面と光線とのなす角度を変化させながら、前記ふるいをメッシュ面上で回転させて、個々の孔を通過する光量の相対変化を観測することにより、孔径差を検出することを特徴とするメッシュチェック方法。

IPC (3件)：

G01N 21/95 ,  G01B 11/08 ,  G01B 11/30

FI (3件)：

G01N 21/95 Z ,  G01B 11/08 Z ,  G01B 11/30 A

Fターム (24件)：

2F065AA27 ,  2F065AA49 ,  2F065BB02 ,  2F065BB03 ,  2F065BB18 ,  2F065CC00 ,  2F065FF02 ,  2F065GG02 ,  2F065HH03 ,  2F065HH13 ,  2F065HH14 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065PP13 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051DA05 ,  2G051EB00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• シャドウマスク透過率測定機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-328640   出願人：株式会社東芝
• 特開昭63-048430