特許
J-GLOBAL ID：200903002128624919
レーザー照射装置
発明者：
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
猪股 祥晃
, 菊池 治
, 猪股 弘子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-201195
公開番号（公開出願番号）：特開2005-040809
出願日： 2003年07月24日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】レーザーによる応力改善技術と、レーザー超音波法によるき裂検査技術との保全施工技術は、従来独立した装置として実現されているため、対象となる材料部分に設けられる装置が大型になり、材料が狭あい空間、または狭あいな経路を経由しなければ到達できない空間に位置している場合、保全施工作業が非常に時間がかかり面倒である。【解決手段】第一のレーザー光源1から発振され、材料Mに照射されて材料Mを改質する第一のレーザー光L1と、第二のレーザー光源6から発振され、材料Mに照射されてその反射成分を検出して該当部位のき裂検査または計測をする第二のレーザー光L2とを共通の統合光学系14を介して材料Mに照射するようにする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
材料に照射され、材料を改質する第一のレーザー光を発振する第一のレーザー光源と、材料に照射され、材料からの反射成分を検出して該当部位の検査または計測をするための第二のレーザー光を発振する第二のレーザー光源と、前記第一および第二のレーザー光が入射され、第一および第二のレーザー光を材料に照射し、かつ前記第二のレーザー光の反射成分を検出する統合光学系と、前記第一および第二のレーザー光をレーザー光源から統合光学系まで伝送し、かつ前記第二のレーザー光の反射成分を伝送するための光伝送手段と、前記第二のレーザー光の反射成分が入射され、反射成分から情報を検知し、電気信号に変換する検査・計測用光学系と、前記検査・計測用光学系から出力される電気信号を信号処理する信号処理手段とからなるレーザー照射装置。
IPC (6件)：
B23K26/00
, B23K26/08
, G02B26/10
, G21C17/003
, G21C19/02
, G21D1/00
B23K26/00 M
, B23K26/08 K
, G02B26/10 109
, G21C19/02 J
, G21D1/00 X
, G21C17/00 F
2G075CA07
, 2G075DA16
, 2G075FA16
, 2G075GA15
, 2H045AG09
, 2H045DA31
, 4E068AH00
, 4E068CA17
, 4E068CB09
, 4E068CC01
, 4E068CD01
, 4E068CD08
, 4E068CE08
, 4E068CJ07
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (1件)
前のページに戻る
