特許
J-GLOBAL ID:200903002279114580
リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
浅村 皓
, 浅村 肇
, 森 徹
, 吉田 裕
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-328305
公開番号(公開出願番号):特開2005-150732
出願日: 2004年11月12日
公開日(公表日): 2005年06月09日
要約:
【課題】性能の問題を回避しながら、製造コストを低減する基準フレーム材料を提供する。【解決手段】基板Wを保持するための基板テーブルWT、基板Wの目標部分上にパターン化されたビームを投影するための投影システムPL、および基板Wが測定される基準面を供給するための独立基準フレームMFを備えるリソグラフィ装置であって、基準フレームMFは熱膨張係数の大きい材料を含有するとともに、所定の材料の複合、サンドイッチまたは積層構造とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
リソグラフィ装置であって、
放射線の投影ビームを供給するための照明システムと、
投影ビームにあるパターンの断面の形を与える働きをするパターニング手段を支持するための支持構造と、
基板を保持するための基板テーブルと、
基板の目標部分上に前記パターン化されたビームを投影するための投影システムと、
前記基板を測定するための基準面を供給するための独立基準フレームとを備え、
前記基準フレームが熱膨張係数の大きい材料を含有することを特徴とするリソグラフィ装置。
IPC (2件):
FI (3件):
H01L21/30 515Z
, G03F7/20 521
, H01L21/30 516E
Fターム (9件):
5F046BA04
, 5F046CA08
, 5F046CC01
, 5F046CC16
, 5F046DA07
, 5F046DA26
, 5F046DB02
, 5F046DB05
, 5F046DC14
引用特許:
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