特許
J-GLOBAL ID:200903002344765098
高精度クリープ損傷評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高橋 昌久 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-300988
公開番号(公開出願番号):特開2003-107019
出願日: 2001年09月28日
公開日(公表日): 2003年04月09日
要約:
【要約】【課題】 高温機器に使用される耐熱鋼夫々の母材部および溶接継手等の溶接熱影響部のクリープ損傷評価を精度良く且つ短時間でできるクリープ損傷評価方法の提案。【解決手段】 高温機器に使用される高強度耐熱鋼の母材部若しくは溶接熱影響部のクリープ損傷評価方法において、前記評価部位における結晶方位角度差が略2〜3°以上の方位差を持つ結晶粒あるいは亜結晶粒の粒径の、クリープ損傷経過に基づく粒径変化の挙動を、前もって生成した該結晶粒径とクリープ損傷度合(損傷率も含む)の対応線図若しくはマップに基づいて比較することによりクリープ損傷度合の評価を行い、前記マップが所定応力単位毎に生成された結晶粒あるいは亜結晶粒径とクリープ損傷度合の対応線図の実質的な集合であり、前記評価部位における負荷応力に基づいて前記マップより対応する線図を選択若しくは補間計算をして、該選択若しくは補完されたた線図よりクリープ損傷度合の評価を行う。
請求項(抜粋):
高温機器に使用される高強度耐熱鋼の母材部若しくは溶接熱影響部のクリープ損傷評価方法において、前記評価部位における結晶方位角度差が略2〜3°以上の方位差を持つ結晶粒あるいは亜結晶粒の粒径の、クリープ損傷経過に基づく粒径変化の挙動を、前もって生成した該結晶粒径とクリープ損傷度合(損傷率も含む)の対応線図若しくはマップに基づいて比較することによりクリープ損傷度合の評価を行うことを特徴とする高精度クリープ損傷評価方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (22件):
2G001AA03
, 2G001BA15
, 2G001CA03
, 2G001GA13
, 2G001JA12
, 2G001KA03
, 2G001KA08
, 2G001LA02
, 2G001NA03
, 2G001NA10
, 2G001NA17
, 2G001RA01
, 2G001RA03
, 2G001RA04
, 2G001RA20
, 2G050AA01
, 2G050BA10
, 2G050BA12
, 2G050EA01
, 2G050EA10
, 2G050EB10
, 2G050EC06
引用特許: