特許
J-GLOBAL ID:200903002364276301
サンプル測定装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
吉田 研二
, 石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-108572
公開番号(公開出願番号):特開2007-278969
出願日: 2006年04月11日
公開日(公表日): 2007年10月25日
要約:
【課題】サンプル測定装置において、ラックから測定ユニットへ容器を送り込む場合に容器の倒れ込みを防止する。【解決手段】下ガイド34は上昇運動する容器13を収容し、それと共に上昇運動する。また容器13の下降時においても下ガイド34内に容器13が収容され、容器13の下降に伴って下ガイド34が下方へ運動する。これにより容器13が倒れ込もうとしてもそれは下ガイド34の内面によって規制される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ラックから送り込まれたサンプル容器を収容し、当該サンプル容器内のサンプルに含有された放射線物質を測定する測定ユニットと、
前記ラックからサンプル容器を上昇させて前記測定ユニット内に送り込み、前記測定ユニット内からサンプル容器を下降させて前記ラックに戻す第1昇降機構と、
前記第1昇降機構による前記サンプル容器の昇降に際し、当該サンプル容器を収容してその起立状態を保持する中継案内部材と、
前記第1昇降機構による前記サンプル容器の昇降に際し、前記中継案内部材を昇降させる第2昇降機構と、
を含むことを特徴とするサンプル測定装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (12件):
2G058CB08
, 2G058CB15
, 2G058CB16
, 2G058GA02
, 2G058GE01
, 2G088EE29
, 2G088GG12
, 2G088GG18
, 2G088JJ01
, 2G088JJ09
, 2G088JJ25
, 2G088JJ29
引用特許:
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