特許
J-GLOBAL ID：200903002420006789
時間分解発光イメージング装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-003213
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189612
出願日： 1996年01月11日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：
【要約】【課題】 繰り返し周波数の高いパルスレーザ光源から出力されたパルス励起光の照射によって発生した発光を有効に受光して、試料からの発光を短い周期で時間分解測定する。【解決手段】 パルスレーザ光源1から出力されたパルス光は、ビームスプリッタ2によって一部が反射し残部が透過する。透過したパルス光は第2高調波発生器3に入射して1/2波長に変換されてパルス励起光5となり、試料8に照射される。試料8から発生した発光10は、偏光子11を経て光カーゲート12に入射する。一方、ビームスプリッタ2で反射したパルス光は、ゲートパルス光18として光カーゲート12に照射される。ゲートパルス光18が入射している時には、発光10は、光カーゲート12を透過する際に楕円偏光となり、検光子13によって一部が透過し、2次元光検出器20によって検出される。ゲートパルス光18は、可動直角ミラー14の位置に応じた遅延で光カーゲート12に入射するので、発光10の時間分解測定が可能となる。
請求項（抜粋）：
パルス光を出力するパルス光源と、前記パルス光を分岐して第1の光束と第2の光束とを生成する光束分岐手段と、前記第1の光束に基づいてパルス励起光を形成し、前記パルス励起光を被測定試料に照射する励起光学系と、前記被測定試料に前記パルス励起光が照射されて生じた発光を入射して所定位置に導く発光光学系と、前記第2の光束に基づいてゲートパルス光を形成し、前記所定位置に導くゲート光学系と、前記所定位置に配され、前記ゲートパルス光が入射している時には前記発光を透過させ、そうでない時には前記発光を透過させない第1の光学的ゲート手段と、前記第1の光学的ゲート手段から出射された前記発光を検出する第1の光検出手段と、前記励起光学系および前記発光光学系の光路長と、前記ゲート光学系の光路長との間の光路長差を設定する光路長可変手段と、を備えることを特徴とする時間分解発光イメージング装置。
IPC (3件)：
G01J 11/00
, G01N 21/63
, G02F 1/35
G01J 11/00
, G01N 21/63
, G02F 1/35
