特許
J-GLOBAL ID:200903002484599732

目およびその屈折性成分の全屈折不均質性を同期マッピングする方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 浅村 皓 ,  浅村 肇 ,  森 徹 ,  吉田 裕
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-516955
公開番号(公開出願番号):特表2004-505657
出願日: 2001年08月08日
公開日(公表日): 2004年02月26日
要約:
目の光学系およびその屈折性成分の屈折誤差を同期測定する計器を提供し、計器は、計器の光軸を画定するレンズ・システムと、目の視軸を計器の光軸とを位置合わせする位置合わせ装置とを有する。光源が、計器の光軸に平行なレンズ・システムを通して投影され、目の開口の複数位置で計器の光軸に平行で目に入るため、計器の光軸から部分的にオフセットするよう選択的に配置可能な探査ビームを生成する。第1光検出器が、目の網膜から後方散乱する探査ビーム光の第1部分の位置を測定して、複数の位置における目の光学系の全屈折誤差を決定する。第2光検出器が、目の角膜から反射した探査ビーム光の第2部分の位置を測定して、角膜の形状を決定し、したがって他の屈折性成分を導き出す。
請求項(抜粋):
目およびその屈折性成分の全屈折不均質性を同期マッピングする装置で、 a)前記目に配向すべき光の細いビームを提供する手段と、 b)前記目の入射開口上で前記ビームを、自身に平行にシフトさせ、前記ビームを1組の測定点に配置する手段と、 c)前記目の網膜から後方散乱した光を検出する手段と、 d)前記ビームが前記網膜に衝突する網膜上の位置と基準位置とのオフセットを測定する手段と、 e)前記測定点の組における前記目の全屈折特徴を計算する手段と、 f)前記測定点の組で前記目の角膜から反射した光を検出し、反射光の空間的方位を測定する手段と、 g)前記測定点の組で角膜から反射した光ビームの空間的方位から、前記測定点の組における角膜の傾斜を計算する手段と、 h)前記測定点の組における角膜の傾斜から、部分的屈折特徴を計算する手段と、 i)1(e)で計算した前記全屈折特徴の値と、前記角膜に起因して1(h)で計算した値との差を計算する手段と、 j)各測定点について1(e)、1(h)および1(i)によって計算した屈折特徴を記憶する手段と、 k)前記屈折特徴の離散集合を、前記屈折特徴の連続的な3次元分布に変換する手段と、 l)前記屈折特徴の前記3次元分布を表示する手段とを備える装置。
IPC (1件):
A61B3/10
FI (5件):
A61B3/10 M ,  A61B3/10 R ,  A61B3/10 Z ,  A61B3/10 W ,  A61B3/10 H
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 眼特性測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-136214   出願人:株式会社トプコン
  • 特許第6234631号
  • 検眼装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-091373   出願人:キヤノン株式会社
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