特許
J-GLOBAL ID：200903002620016088

試料解析装置および試料解析方法

発明者：
吉良 茂樹

吉良 茂樹 について

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山田 和成

山田 和成 について

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廣田 寿一

廣田 寿一 について

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吉田 安子

吉田 安子 について


出願人/特許権者：
日本碍子株式会社

日本碍子株式会社 について


代理人 (7件)： 中村 友之 ,  三好 秀和 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄 ,  鈴木 壯兵衞 ,  高久 浩一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-036900
公開番号（公開出願番号）：特開2005-172840
出願日： 2005年02月14日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：
【課題】 DNAマイクロアレイの解析において、DNAマイクロアレイ画像ファイルへの検出エリアの位置決め処理および位置決め成否の判定処理を定量的、自動的、かつ高精度に実行する。【解決手段】 基板2と、基板表面に、光学的に検出可能に標識されている試料と特異的に反応可能なプローブを固定するスポットが、マトリクス状に形成されたスポット領域1bと、基板表面に、スポット領域内またはスポット領域近傍に配置され、試料の解析において、スポットの位置ずれを補正するための複数の異種の位置マークからなる基準パターン領域(1c、1d)とを具備する。【選択図】 図12
請求項（抜粋）：
プローブ反応性チップ上に形成された、スポットの位置ずれを補正するための複数の異種の位置マークからなる基準パターン領域の情報を定義する基準パターン情報記憶部と、 前記プローブ反応性チップ上の、光学的に検出可能に標識されている試料と特異的に反応可能なプローブを固定するスポットを走査して得られた画像データを読み込む画像データ読み込み部と、 前記基準パターン情報記憶部から読み出された基準パターン領域の情報に基づいて、前記画像データを、予め定義された検出対象エリアに位置決めするとともに、前記画像データと前記検出対象エリアとの位置ずれを補正する補正データを生成する画像データ位置決め部と、 前記画像データ位置決め部により位置決めされた画像データを解析することにより、前記位置決めの合否を判定する判定部と、 前記補正データに基づいて、前記画像データと前記検出対象エリアとの位置ずれを補正する補正部と、 補正された画像データを解析して、前記試料に関する数値化データを出力する解析部とを具備する ことを特徴とする試料解析装置。
IPC (4件)：
G01N33/53 ,  G01N21/64 ,  G01N33/483 ,  G01N37/00
FI (4件)：
G01N33/53 M ,  G01N21/64 F ,  G01N33/483 C ,  G01N37/00 102
Fターム (15件)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2G045DA13 ,  2G045FB02 ,  2G045FB07 ,  2G045FB17 ,  2G045JA01 ,  2G045JA02
引用特許：
審査官引用 (4件)
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