特許
J-GLOBAL ID：200903002713190290
抵抗素子のトリミング方法及びプローブユニット
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-388838
公開番号（公開出願番号）：特開2005-150580
出願日： 2003年11月19日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：
【課題】 小型化した抵抗素子5に対しても実質的な四端子測定しながらのトリミングを可能とする。【解決手段】 抵抗体2と電極1が交互に配置され、直列接続状態で連なった抵抗素子群に対し、プローブユニット7を用いて実質的に抵抗値測定しながら抵抗値調整する抵抗素子5のトリミング方法であって、当該抵抗素子群の両端に位置する電極1にプローブユニット7が有する通電用プローブピン3を当接させ、当該抵抗素子群の全ての電極1各々にプローブユニット7が有する電圧測定用プローブピン4を当接させ、当該抵抗素子群の両端に位置する電極1間に通電用プローブピン3により定電流(I)を流しながら各抵抗素子5の端子間電圧(V)を測定し、Vが所定の値となるよう各抵抗体2及び/又は電極1に対してトリミング手段を講じる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
抵抗体と電極が交互に配置され、各抵抗素子が直列接続状態となった抵抗素子群に対し、プローブユニットを用いて実質的に抵抗値測定しながら抵抗値調整する抵抗素子のトリミング方法であって、
当該抵抗素子群の両端の電極にプローブユニットが有する通電用プローブピンを当接させ、
当該抵抗素子群の全ての電極各々にプローブユニットが有する電圧測定用プローブピンを当接させ、
当該抵抗素子群の両端に位置する電極間に通電用プローブピンにより定電流(I)を流しながら各抵抗素子の端子間電圧(V)を測定し、
Vが所定の値となるよう各抵抗体及び/又は電極に対してトリミング手段を講じることを特徴とする抵抗素子のトリミング方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
5E032BA07
, 5E032BB13
, 5E032CB01
, 5E032CB03
, 5E032CC14
, 5E032TB02
