特許

J-GLOBAL ID：200903002879040785

FBGひずみゲージ

発明者： 三田 彰 ,  小島 正嗣
出願人/特許権者： 日立電線株式会社
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-324669
公開番号（公開出願番号）：特開2005-091151
出願日： 2003年09月17日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：

【課題】 簡単な構成でひずみを高精度に測定できるFBGひずみゲージを提供する。【解決手段】 ファイバ・ブラッグ・グレーティング(FBG)72が形成された光ファイバ73を備え、測定対象物のひずみを測定するFBGひずみゲージ1において、屈曲自在な弾性体2を備え、その弾性体2に光ファイバ73をプレテンションが加わった状態で固定したものである。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

ファイバ・ブラッグ・グレーティング(FBG)が形成された光ファイバを備え、測定対象物のひずみを測定するFBGひずみゲージにおいて、屈曲自在な弾性体を備え、その弾性体に上記光ファイバをプレテンションが加わった状態で固定したことを特徴とするFBGひずみゲージ。

IPC (2件)：

G01L1/24 ,  G01D5/26

FI (2件)：

G01L1/24 A ,  G01D5/26 D

Fターム (5件)：

2F103BA01 ,  2F103CA08 ,  2F103EA20 ,  2F103EC09 ,  2F103GA15

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 光ファイバ式ひずみゲージ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-094059   出願人：株式会社共和電業
• 光ファイバセンサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-015384   出願人：エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社, 株式会社東京測器研究所, 株式会社東亜測器