特許
J-GLOBAL ID:200903003105500488

イオン伝導度測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 原 謙三
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-145448
公開番号(公開出願番号):特開2005-326311
出願日: 2004年05月14日
公開日(公表日): 2005年11月24日
要約:
【課題】 膜厚方向4端子法において、測定値安定性、再現性を向上させ、より精度の良いイオン伝導度測定方法を実現する。【解決手段】 2つの電流電極14,15間に積層配置された固体電解質膜11〜13に対し、各固体電解質膜11〜13間に電圧電極16,17を挿入し、電流電極14,15によって積層された固体電解質膜11〜13の膜厚方向に電流を供給しながら、テスト膜となる固体電解質膜12の両側に配置された電圧電極16,17間の電位差に基づいて、固体電解質膜12のイオン伝導度を測定する。この際、電圧電極16,17として、太さが1〜15μm(さらに好適には5〜10μm)である良導電性線を使用する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
2つの電流電極間に積層配置された少なくとも3枚以上の固体電解質膜に対し、各固体電解質膜間に電圧電極を挿入し、上記電流電極によって上記積層された固体電解質膜の膜厚方向に電流を供給しながら、所定の固体電解質膜の両側に配置された電圧電極間の電位差に基づいて、上記所定の固体電解質膜のイオン導電度を測定するイオン伝導度測定方法において、 上記電圧電極として被覆層を有さない良導電性線を使用し、該電圧電極の太さが1〜15μmであることを特徴とするイオン伝導度測定方法。
IPC (3件):
G01N27/04 ,  H01M8/02 ,  H01M8/04
FI (3件):
G01N27/04 Z ,  H01M8/02 P ,  H01M8/04 Z
Fターム (22件):
2G060AA08 ,  2G060AD01 ,  2G060AF06 ,  2G060AF15 ,  2G060AG08 ,  2G060AG14 ,  2G060EB03 ,  2G060HC08 ,  2G060HC21 ,  2G060KA09 ,  5H026AA06 ,  5H026CX02 ,  5H026CX05 ,  5H026EE02 ,  5H026HH01 ,  5H026HH08 ,  5H026HH09 ,  5H027AA06 ,  5H027KK41 ,  5H027KK54 ,  5H027KK56 ,  5H027MM26
引用特許:
審査官引用 (2件)
引用文献:
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