特許
J-GLOBAL ID：200903003121802672
光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
牛木 護
, 吉田 正義
, 清水 栄松
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-316440
公開番号（公開出願番号）：特開2009-139241
出願日： 2007年12月06日
公開日（公表日）： 2009年06月25日
要約：
【課題】作動の度に時間をかけて調整を行なうことなく、被測定光ファイバの片端から光を入射するだけで、その特性分布を高い空間分解能で且つ短時間に測定できるようにする。【解決手段】光源1からの出力光を周波数変調しつつ、被測定光ファイバFUTの片端だけからポンプ光を入射して、被測定光ファイバFUT内のブリルアン散乱により生じた反射光と参照光とを干渉させる。これにより、被測定光ファイバFUT中の狭い領域でのブリルアン散乱を、ある位置に対応した干渉出力として選択的に抽出できる。また、その位置を移動させて、被測定光ファイバFUT中の特性分布を測定することができ、高い空間分解能を実現できる。しかも、連続光を被測定光ファイバFUTの片端に入射するため、短時間での測定が可能になり、また光ヘテロダイン方式を採用することで、BOCDA法のようなSSBMを不要にできる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
周波数変調された連続光を出力する光源部と、
前記光源部からの出力光を、被測定光ファイバの片端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、
前記光源部からの出力光を、参照光として生成する参照光生成手段と、
前記被測定光ファイバ内のブリルアン散乱により生じた反射光と前記参照光とを干渉させ、前記出力光の周波数変調を利用して、前記被測定光ファイバ内のある位置で発生した散乱による反射光を干渉出力として選択的に抽出する検出手段と、
前記検出手段からの干渉出力により、前記位置でのブリルアン周波数シフトを測定し、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (13件)：
2F103BA17
, 2F103BA43
, 2F103CA07
, 2F103CA08
, 2F103EB02
, 2F103EB12
, 2F103EB19
, 2F103EC09
, 2F103EC10
, 2F103EC12
, 2F103EC13
, 2F103EC16
, 2G086DD05
出願人引用 (7件)
-
特許第3667132号公報
-
特許第3607930号公報
-
特許第3667132号
全件表示
前のページに戻る
