特許
J-GLOBAL ID:200903003139950245
選択透過性膜モジュールのリーク検査方法
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-282410
公開番号(公開出願番号):特開2000-107575
出願日: 1998年10月05日
公開日(公表日): 2000年04月18日
要約:
【要約】【課題】 逆浸透膜及びナノ濾過膜モジュールを、汚染が無く、透過性を損なうことがない、リーク箇所を特定して補修が可能であるリーク検査方法を提供する。【解決手段】 供給液に分子量が300から3000である蛍光染料溶液を加えて、膜モジュールの欠陥からリークする染料を蛍光で検知する。
請求項(抜粋):
選択透過性膜モジュールのリーク検査に際して、分子量が300から3000である蛍光染料溶液を用いて膜モジュールの欠陥からリークする染料を蛍光で検知してリーク箇所を特定する選択透過性膜モジュールのリーク検査方法。
IPC (5件):
B01D 65/10
, B01D 63/02
, B01D 71/16
, G01M 3/20
, G01N 21/88
FI (5件):
B01D 65/10
, B01D 63/02
, B01D 71/16
, G01M 3/20 R
, G01N 21/88 K
Fターム (29件):
2G051AB04
, 2G051AB20
, 2G051BA05
, 2G051CB01
, 2G051GA10
, 2G067AA41
, 2G067BB15
, 2G067BB17
, 2G067CC16
, 2G067DD10
, 4D006GA03
, 4D006GA07
, 4D006HA01
, 4D006KE11P
, 4D006KE19P
, 4D006LA03
, 4D006MA01
, 4D006MA06
, 4D006MC18X
, 4D006MC22
, 4D006MC30
, 4D006MC39
, 4D006MC54X
, 4D006MC58
, 4D006MC62X
, 4D006MC63
, 4D006PA01
, 4D006PB02
, 4D006PB08
引用特許:
審査官引用 (6件)
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特開昭59-136631
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逆浸透膜の欠陥検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-042698
出願人:東洋紡績株式会社
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特開昭63-214633
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