特許
J-GLOBAL ID:200903003139950245

選択透過性膜モジュールのリーク検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-282410
公開番号(公開出願番号):特開2000-107575
出願日: 1998年10月05日
公開日(公表日): 2000年04月18日
要約:
【要約】【課題】 逆浸透膜及びナノ濾過膜モジュールを、汚染が無く、透過性を損なうことがない、リーク箇所を特定して補修が可能であるリーク検査方法を提供する。【解決手段】 供給液に分子量が300から3000である蛍光染料溶液を加えて、膜モジュールの欠陥からリークする染料を蛍光で検知する。
請求項(抜粋):
選択透過性膜モジュールのリーク検査に際して、分子量が300から3000である蛍光染料溶液を用いて膜モジュールの欠陥からリークする染料を蛍光で検知してリーク箇所を特定する選択透過性膜モジュールのリーク検査方法。
IPC (5件):
B01D 65/10 ,  B01D 63/02 ,  B01D 71/16 ,  G01M 3/20 ,  G01N 21/88
FI (5件):
B01D 65/10 ,  B01D 63/02 ,  B01D 71/16 ,  G01M 3/20 R ,  G01N 21/88 K
Fターム (29件):
2G051AB04 ,  2G051AB20 ,  2G051BA05 ,  2G051CB01 ,  2G051GA10 ,  2G067AA41 ,  2G067BB15 ,  2G067BB17 ,  2G067CC16 ,  2G067DD10 ,  4D006GA03 ,  4D006GA07 ,  4D006HA01 ,  4D006KE11P ,  4D006KE19P ,  4D006LA03 ,  4D006MA01 ,  4D006MA06 ,  4D006MC18X ,  4D006MC22 ,  4D006MC30 ,  4D006MC39 ,  4D006MC54X ,  4D006MC58 ,  4D006MC62X ,  4D006MC63 ,  4D006PA01 ,  4D006PB02 ,  4D006PB08
引用特許:
審査官引用 (6件)
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