特許
J-GLOBAL ID：200903003208039096

サンプル収集および試験システム

発明者：
チャンドラー、ハワード、ミルン

チャンドラー、ハワード、ミルン について

, 
ラ ポワント、ローレンス、チャールズ

ラ ポワント、ローレンス、チャールズ について


出願人/特許権者：
エンテリックス インコーポレイテッド

エンテリックス インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-604203
公開番号（公開出願番号）：特表2002-539425
出願日： 2000年03月10日
公開日（公表日）： 2002年11月19日
要約：
【要約】サンプル中の対象となる分析物の同定のための試験装置であって、内側凹部を有するハウジング(14)、サンプル収集装置(19)、少なくとも1つの挿入可能な試験要素(20)を含み、前記ハウジングは前記内側凹部内に前記サンプル収集装置を収容し、前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルを遮蔽するように適合しており、前記ハウジングは前記1つのまたはそれぞれの挿入可能な試験要素を収容するようにも適合しており、したがって前記試験要素の前記ハウジングへの挿入によって、前記試験要素が前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルと液体伝導式に連通する試験装置。
請求項（抜粋）：
サンプルの収集および試験の際に使用するための装置であって、 a.内側凹部を有するハウジング b.サンプル収集装置 を含み、前記ハウジングは前記内側凹部内に前記サンプル収集装置を収容し、前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルを遮蔽するようにされ、前記ハウジングは挿入可能な試験要素を収容するようにされ、したがって前記試験要素の前記ハウジングへの挿入によって、前記試験要素が前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルと液体伝導式に連通する装置。
IPC (7件)：
G01N 1/28 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/04 ,  G01N 33/48 ,  G01N 33/543 521 ,  G01N 33/543 525 ,  G01N 1/10
FI (7件)：
G01N 1/00 101 G ,  G01N 1/04 V ,  G01N 33/48 S ,  G01N 33/543 521 ,  G01N 33/543 525 G ,  G01N 1/10 V ,  G01N 1/28 J
Fターム (11件)：
2G045AA01 ,  2G045CA25 ,  2G045FB03 ,  2G045FB15 ,  2G045HA14 ,  2G052AA28 ,  2G052BA19 ,  2G052CA04 ,  2G052DA08 ,  2G052GA27 ,  2G052GA30
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (3件)

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