特許
J-GLOBAL ID：200903003299056419

検査結果出力装置および検査結果出力方法、ならびにこの検査結果出力装置を用いた基板検査システムおよびこの検査結果出力方法を用いた基板検査方法

発明者：
石羽 正人

石羽 正人 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (1件)： 青木 輝夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-117639
公開番号（公開出願番号）：特開平8-292018
出願日： 1995年04月20日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：
【要約】【目的】 基板の不良部位の修正作業および部品実装部位の品質管理を効率的に行うこと。【構成】 投光部1によって被検査基板14に光を照射し、この反射光像から撮像部2によって撮像して得られたカラー画像信号に基づいて、基板上の部品実装部位の検査を行い、この検査結果データに基づいて、レイアウト図作成部11によって不良内容に応じて形状の異なる不良部位識別マークによって不良部位を示した部品実装部位のレイアウト図を作成し、このレイアウト図を検査結果出力ファイル作成部12を介して出力部10によって出力する構成。
請求項（抜粋）：
基板に光を照射し、この反射光を受光して得られる受光データに基づいて基板上の部品実装部位の検査を行い、この検査結果に基づいて不良部位識別マークによって不良部位の位置を示した部品実装部位のレイアウト図を作成し、このレイアウト図を出力する検査結果出力装置であって、不良内容に応じて異なる形状を有する不良部位識別マークによって不良部位を示した前記レイアウト図を作成するレイアウト図作成手段を具備することを特徴とする検査結果出力装置。
引用特許：
審査官引用 (4件)
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