特許
J-GLOBAL ID：200903003304817342
旋光度測定方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-041804
公開番号（公開出願番号）：特開2008-203170
出願日： 2007年02月22日
公開日（公表日）： 2008年09月04日
要約：
【課題】本発明の目的は、測定の迅速化とS/N比の向上とを両立することのできる旋光度測定方法を提供することにある。【解決手段】試料温度制御手段16による試料温度の規定温度への変温過程において、旋光度測定装置10による試料の旋光度測定を開始し、該変温過程での試料の温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得工程(S10)と、該試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、該旋光度データ取得工程(S10)で得られた温度データと旋光度データとの直線関係を求めるデータ処理工程(S12)とを備え、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料温度を規定温度へ制御する試料温度制御手段を備えた旋光度測定装置を用いて、規定温度での試料の旋光度を求める旋光度測定方法において、
前記試料温度制御手段による試料温度の規定温度への変温過程において、前記旋光度測定装置による試料の旋光度測定を開始し、該試料の変温過程での温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得工程と、
前記試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、前記旋光度データ取得工程で得られた旋光度データと温度データとの直線関係を求めるデータ処理工程と、
を備え、前記規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G059AA02
, 2G059BB04
, 2G059CC12
, 2G059CC20
, 2G059DD16
, 2G059EE01
, 2G059FF04
, 2G059NN02
出願人引用 (3件)
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旋光度測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-213145
出願人：松下電器産業株式会社
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旋光計
公報種別：公表公報
出願番号：特願2003-576908
出願人：ルドルフ・リサーチ・アナリティカル
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比旋光計
公報種別：公開公報
出願番号：特願平4-186245
出願人：株式会社堀場製作所
審査官引用 (2件)
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比旋光計
公報種別：公開公報
出願番号：特願平4-186245
出願人：株式会社堀場製作所
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旋光計
公報種別：公表公報
出願番号：特願2003-576908
出願人：ルドルフ・リサーチ・アナリティカル
引用文献：
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