特許
J-GLOBAL ID：200903003740770920

非接触通信システムと非接触型ICカード検査発行装置

発明者：
秋山 知哉

秋山 知哉 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (1件)： 金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-231030
公開番号（公開出願番号）：特開2004-070779
出願日： 2002年08月08日
公開日（公表日）： 2004年03月04日
要約：
【課題】書き込み読み取り精度の高い非接触通信システムと非接触型ICカード検査発行装置を提供する。【解決手段】本発明の非接触通信システムは、非接触ICカード1と非接触で通信可能なアンテナ12と制御回路部とを有するリーダライタを複数台並列して有する非接触通信システムにおいて、各リーダライタ間に高透磁率材料からなる板材2が配設されていることを特徴とする。本発明の非接触型ICカード検査発行装置は非接触型ICカードの検査発行装置を複数台並列して配置する装置において、各個別の検査発行装置間に高透磁率材料からなる板材が配設されていることを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
非接触型ICカードと非接触通信可能なアンテナと制御回路部とを有するリーダライタを複数台並列して有する非接触通信システムにおいて、各リーダライタ間に高透磁率材料からなる板材が配設されていることを特徴とする非接触通信システム。
IPC (2件)：
G06K17/00 ,  B42D15/10
FI (2件)：
G06K17/00 F ,  B42D15/10 521
Fターム (10件)：
2C005MA24 ,  2C005MA40 ,  2C005NA09 ,  2C005TA22 ,  2C005TA31 ,  5B058CA15 ,  5B058CA17 ,  5B058KA02 ,  5B058KA04 ,  5B058KA24
引用特許：
審査官引用 (4件)
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