特許
J-GLOBAL ID：200903003876623379
二次電池の検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
石井 和郎
, 河崎 眞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-321322
公開番号（公開出願番号）：特開2009-145137
出願日： 2007年12月12日
公開日（公表日）： 2009年07月02日
要約：
【課題】二次電池の微小短絡不良を短時間で検査できる検査方法を提供する。【解決手段】基準となる二次電池を基準電池10aとし、検査される二次電池を被検査電池20とし、最初にそれぞれの電池を所定電圧まで充電した後に、基準電池10aと被検査電池20との電位差を測定し、測定した電位差を初期電位差Vdiとする。次にそれぞれの電池を所定時間放置した後、再度、基準電池10aと被検査電池20との電位差を測定し、測定した電位差を遷移電位差Vdtとする。最後に、遷移電位差Vdtと初期電位差Vdiとの差分Vaに基づいて、被検査電池20の微小短絡不良、ひいては電池の良否を判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
二次電池の検査方法であって、
第1の二次電池と第2の二次電池をそれぞれ所定電圧まで充電するステップと、
前記充電された第1の二次電池と第2の二次電池間の電位差を測定して、初期電位差を検出するステップと、
所定時間経過後の前記電位差を測定して、遷移電位差を検出するステップと、
前記初期電位差と前記遷移電位差との差に基づいて前記第2の二次電池の良否を判定するステップとを備える二次電池の検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R31/36 A
, H01M10/48 P
2G016CB05
, 2G016CB11
, 2G016CC01
, 2G016CC04
, 2G016CC23
, 5H030AA06
, 5H030AA09
, 5H030AS11
, 5H030FF22
, 5H030FF44
