特許
J-GLOBAL ID：200903003913059080
移動式探傷装置における欠陥寸法測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三觜 晃司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-328290
公開番号（公開出願番号）：特開平8-184584
出願日： 1994年12月28日
公開日（公表日）： 1996年07月16日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】超音波探傷等において、欠陥の評価を正確に行える。【構成】欠陥検出センサ2を直線的に移動し、その移動方向の直角方向を欠陥検出方向として走査して欠陥1の検出を行う移動式探傷装置において、ある移動方向Aにおいて欠陥からの信号を検出した場合には、その方向での適宜移動範囲のデータ群により欠陥寸法を推定して、これを記憶し、次いで前回の移動方向から適宜角度変更した移動方向Bにつき、前回の移動範囲に対応する範囲で欠陥寸法の推定、記憶を行う動作を、欠陥からの信号が検出されなくなるまで繰り返して欠陥寸法の推定値群を記憶し、記憶された推定値群のうちの最大値を欠陥寸法の測定値とする。【効果】欠陥の検出動作を各方向から行って、その最大値を欠陥寸法の測定値とするため、欠陥を過小評価することが防げる。
請求項（抜粋）：
欠陥検出センサを直線的に移動し、その移動方向の直角方向を欠陥検出方向として走査して欠陥の検出を行う移動式探傷装置において、ある移動方向において欠陥からの信号を検出した場合には、その方向での適宜移動範囲のデータ群により欠陥寸法を推定して、これを記憶し、次いで前回の移動方向から適宜角度変更した移動方向につき、前回の移動範囲に対応する範囲で上記欠陥寸法の推定、記憶を行う動作を、欠陥からの信号が検出されなくなるまで繰り返して欠陥寸法の推定値群を記憶し、記憶された推定値群のうちの最大値を欠陥寸法の測定値とすることを特徴とする移動式探傷装置における欠陥寸法測定方法
IPC (2件)：
G01N 29/10 505
, G01N 29/22 504
