特許

J-GLOBAL ID：200903003955929670

化学物質検出システム、化学物質検出方法、および半導体レーザ出力ビルドアップシステム

発明者： デビッド・エイ・キング ,  ウイリアム・エフ・カールセン ,  ダミアン・エフ・グレイ ,  リチャード・ジェイ・ピッタロ
出願人/特許権者： ヒューレット・パッカード・カンパニー
代理人 (1件)： 久保田 千賀志 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-112676
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294418
出願日： 1995年04月14日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：

【要約】【目的】 低損失で、かつ安定した出力を得ることができる、化学物質検出システム、化学物質検出方法、および半導体レーザ出力ビルドアップシステムを提供する。【構成】 A)半導体レーザ119と、B)第1,第2の入り口反射要素120と第2の反射要素122との間で限定される光共振キャビティと、C)入射ビーム114と一致するがそれにと逆方向である戻りビーム136と、D)検出系130、とから構成され、E)試料128はキャビティの相互作用領域に置かれ、検出系はその相互作用領域内部で試料の所定の特性を検知できるよう配置されること、F)検出系が相互作用領域に隣合って置かれること、G)レーザはキャビティに全体的に光学ロッキングされること、H)キャビティ内ビームは、試料との相互作用以外は実質上無損失でキャビティ内部を通過すること、を特徴とする試料中の化学物質検出システム。

請求項（抜粋）：

A)放射面を有し、かつ入射ビームを入射ビーム経路に沿って出力する半導体レーザと、B)第1の入り口反射要素と少なくとも1つの第2の反射要素との間で限定され、キャビティ内ビーム経路に沿ってキャビティ内ビームを有する光共振キャビティと、C)入り口反射要素中を透過するキャビティ内ビームの一部から成り、入射ビームと一致するがそれにと逆方向である戻りビームと、D)検出系と、から構成され、E)試料はキャビティの相互作用領域に置かれ、検出系はその相互作用領域内部で試料の所定の特性を検知できるよう配置されること、F)検出系が相互作用領域に隣合って置かれること、G)レーザはキャビティに全体的に光学ロッキングされること、H)キャビティ内ビームは、試料との相互作用以外は実質上無損失でキャビティ内部を通過すること、を特徴とする試料中の化学物質検出システム。

IPC (2件)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/65

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 微粒子測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-029601   出願人：住友金属鉱山株式会社
• 弱散乱電磁放射線の収集を増強する装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-033182   出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー