特許
J-GLOBAL ID：200903004031827168

浮遊粒子状物質測定装置

発明者：
小川 重男

小川 重男 について

, 
水沼 守

水沼 守 について

, 
阪田 晴三

阪田 晴三 について


出願人/特許権者：
日本電信電話株式会社

日本電信電話株式会社 について


代理人 (3件)： 山川 政樹 ,  黒川 弘朗 ,  山川 茂樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-002915
公開番号（公開出願番号）：特開2009-162712
出願日： 2008年01月10日
公開日（公表日）： 2009年07月23日
要約：
【課題】静電場印加によって誘電分極した被検出対象粒子を観測視野内に集中させる。【解決手段】浮遊粒子状物質測定装置は、粒子に偏光ビームが入射したことによる散乱光のうち散乱角が略10度の散乱光を偏光方向が直交する2本の光ビームに分割するプリズムと、光ビームが粒子に入射する前に、粒子を散乱平面の法線方向に向ける粒子配向手段と、2本の光ビームを電気信号に変換する受光部と、粒子形状を識別する粒子識別手段とを有する。粒子配向手段は、電極ブロック230a,230bからなり、電極ブロック230a,230b間に散乱平面の法線方向を向いた静電場を形成するものであり、電極ブロック230a,230bは、導流路側表面が平面で互いに平行な平板状か、導流路側表面が曲面で対向する電極ブロックに向かって互いに凸の形状である。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
偏光ビームを射出する光源と、 流体中に浮遊している被検出対象粒子を試料流体導流路により層流状態で観測視野内に導入する導入手段と、 前記観測視野内に導入された粒子に前記光源からの偏光ビームが入射したことによる散乱光のうち、前記光源から前記粒子に向かう方向に対して前記粒子を中心とする散乱角が略10度の散乱光を、偏光方向が互いに直交する2本の光ビームに分割する偏光型ビームスプリッタプリズムと、 前記光ビームが前記粒子に入射する前に、前記光源と前記粒子と前記偏光型ビームスプリッタプリズムとを含む散乱平面に対して、前記粒子を前記散乱平面の法線方向に向ける粒子配向手段と、 前記偏光型ビームスプリッタプリズムによって分割された2本の光ビームをそれぞれ電気信号に変換する第1、第2の受光手段と、 前記第1、第2の受光手段から出力された信号に基づいて粒子形状を識別する粒子識別手段とを有し、 前記粒子配向手段は、前記試料流体導流路に沿って配置された二つの電極ブロックからなり、この電極ブロック間に前記散乱平面の法線方向を向いた静電場を形成するものであり、 前記二つの電極ブロックは、導流路側表面が平面で互いに平行な平板状か、もしくは導流路側表面が曲面で対向する電極ブロックに向かって互いに凸の形状であることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
IPC (3件)：
G01N 15/14 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/47
FI (4件)：
G01N15/14 A ,  G01N15/14 P ,  G01N21/21 Z ,  G01N21/47 Z
Fターム (21件)：
2G059AA03 ,  2G059BB04 ,  2G059BB09 ,  2G059DD12 ,  2G059DD15 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK02 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (8件)
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