特許
J-GLOBAL ID：200903004112929437
テラヘルツ電磁波による物体の画像表示装置および方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
福井 國敞
, 穂坂 和雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-260817
公開番号（公開出願番号）：特開2004-101257
出願日： 2002年09月06日
公開日（公表日）： 2004年04月02日
要約：
【課題】テラヘルツ電磁波による物体の画像表示装置および方法に関する。物体の厚さに関わりなく物体の材質の相違が明確になるように画像表示する、あるいは物体の厚さの相違が明確になるように画像表示することを目的とする。【解決手段】物体にテラヘルツ電磁波を照射する照射手段と,物体を通過したテラヘルツ電磁波を受信して電気信号に変換する受信手段と該受信手段の出力をもとに該物体を通過したテラヘルツ電磁波の振幅と通過しないテラヘルツ電磁波の振幅を取得する手段と、伝搬時間の時間差を取得する手段と、該振幅および時間差に基づいてテラヘルツ電磁波が通過する物体の厚さに依存しないパラメータを求める手段と、物体の厚さに対する依存性が大きくかつ材質についての依存性が小さいパラメータを求める手段の少なくとも一方の手段と、該パラメータに基づいて画像表示する画像表示手段とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
物体にテラヘルツ電磁波を照射する照射手段と、
物体を通過したテラヘルツ電磁波を受信して電気信号に変換する受信手段と、該受信手段の出力をもとに該物体を通過したテラヘルツ電磁波の振幅と通過しないテラヘルツ電磁波の振幅を取得する手段と、伝搬時間の時間差を取得する手段と、
該振幅および時間差に基づいてテラヘルツ電磁波が通過する物体の厚さに依存しないパラメータを求める手段と、物体の厚さに対する依存性が大きくかつ材質についての依存性が小さいパラメータを求める手段の少なくとも一方の手段と、該パラメータに基づいて画像表示する画像表示手段とを備えたことを特徴とするテラヘルツ電磁波による物体の画像表示装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/35 Z
, G01N22/00 Z
2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059BB09
, 2G059CC12
, 2G059EE01
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH05
, 2G059HH06
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059JJ24
, 2G059KK10
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 2G059PP04
