特許
J-GLOBAL ID：200903027433042744
サブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置およびその検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-244160
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066375
出願日： 1999年08月31日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
要約：
【要約】【課題】 プラスチック片や木片あるいはセラミクス等の異物を短時間で検出することができるサブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置およびその検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 波長600μmから3mm(0.5THz〜100GHz)の電磁波が粉粒体を透過することから、このパルス状あるいは連続したサブテラヘルツ電磁波を被検査物に照射し、その物質による伝播時間の差又は透過率の差を利用して粉粒体中の異物検査を行う。
請求項（抜粋）：
サブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置であって、波長600μmから3mm(0.5THz〜100GHz)のパルス状電磁波を被検査物に照射する電磁波照射手段と、その透過したパルス状電磁波の空間分布を検出する検出手段と、そのパルス状電磁波の被検査物による伝播時間の差又は振幅の差を取得する信号処理手段と、上記の被検査物による伝播時間の差又は振幅の差を表示する情報処理手段と、を備えたことを特徴とするサブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置。
IPC (3件)：
G01V 3/12
, G01N 22/00
, G01V 3/11
G01V 3/12 A
, G01N 22/00 Z
, G01V 3/11 C
