特許
J-GLOBAL ID:200903004159519865

異物検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 永井 冬紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-382344
公開番号(公開出願番号):特開2002-181736
出願日: 2000年12月15日
公開日(公表日): 2002年06月26日
要約:
【要約】【課題】 装置のコスト低減が図れるとともに、容易に調整作業を行うことができる異物検査装置の提供。【解決手段】 同一の操作パネル9上に、各検査レベルにおける異物判定基準である感度や面積が設定できるスイッチ91a,91b,92a,92bと、検査結果を定量的に表示するレベルゲージ表示領域94とを設けた。そのため、レベル表示94a,94bを確認しながら感度や面積の設定を行うことができ、調整作業がやりやすくなる。また、調整状況はレベル表示94a,94bにより定量的に表示されるので、調整状況の把握がしやすい。
請求項(抜粋):
検査対象物を撮像装置により撮像して得られた画像データを複数のアルゴリズムで画像処理し、画像処理データに基づいて検査対象物に混入している異物を検出する異物検査装置において、異物検出判定基準に基づいて前記画像処理データを分析して判定する判定手段と、前記異物検出判定基準を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された異物検出判定基準に基づく前記判定手段の判定結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする異物検査装置。
Fターム (14件):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA20 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001PA06 ,  2G001PA11
引用特許:
審査官引用 (4件)
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