特許

J-GLOBAL ID：200903004298629560

印刷検査用データ作成装置および印刷検査用データ作成方法

発明者： 深川 貴弘 ,  大武 裕治 ,  香月 隆 ,  山崎 公幸
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-216328
公開番号（公開出願番号）：特開2004-063542
出願日： 2002年07月25日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：

【課題】検査用データのデータ処理を効率的に行うことができる印刷検査用データ作成装置および印刷検査用データ作成方法を提供することを目的とする。【解決手段】スクリーン印刷後の基板のクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査装置に用いられ、印刷面にクリーム半田を印刷することにより形成される半田印刷部の形状および位置を示す形状・位置データを含む検査用データの作成において、基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用のそれぞれの電極に形成される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを、マスク開口データによって求め、これらの要素形状・位置データを、電子部品単位、部品種類単位などのグループ化条件に従って括ることによってデータ群に分類し、これらのデータ群毎に検査実行対象の特定や検査しきい値の付与を行う。これにより、検査用データのデータ処理を効率的に行うことができる。【選択図】 図10

請求項（抜粋）：

スクリーン印刷後の基板のクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査装置に用いられ、印刷面にクリーム半田を印刷することにより形成される半田印刷部の形状および位置を示す形状・位置データを含む検査用データを作成する印刷検査用データ作成装置であって、前記基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用のそれぞれの電極に形成される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを提供するデータ提供手段と、前記要素形状・位置データをグループ化条件に従って括ることによってデータ群に分類して各データ群を特定するグループ化手段とを備えたことを特徴とする印刷検査用データ作成装置。

IPC (1件)：

H05K3/34

FI (1件)：

H05K3/34 512A

Fターム (9件)：

2C035AA06 ,  2C035FB13 ,  5E319AA03 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD51 ,  5E319GG15 ,  5E319GG20

引用特許：

審査官引用 (3件)

• スクリーン印刷機用基準データ作成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-047536   出願人：富士機械製造株式会社
• 特公平8-024214
  
• 検査機データ作成方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-290353   出願人：松下電器産業株式会社