特許
J-GLOBAL ID:200903004313057195
粒度分布測定用サンプリング装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
池浦 敏明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-190859
公開番号(公開出願番号):特開2004-037111
出願日: 2002年06月28日
公開日(公表日): 2004年02月05日
要約:
【課題】安定して粒径をサンプリング及び測定することができる粒度分布測定用サンプリング装置を提供する。【解決手段】粉体輸送管4内に設けられる吸引ノズル5の上方位置に、振動発生装置13によって振動を付与可能な篩16を配設してサンプリング装置12を構成する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
配管内を非連続的に自由落下する粉体のサンプリングを行う粒度分布測定用サンプリング装置において、落下する粉体の大きさよりも十分に大きい目開きの篩を配置し、落下してきた粉体を一時捕捉し、捕捉した粉体が篩を通過した後は連続的に落下し、その粉体の一部を吸引して測定器に取り込み粒径を連続的に測定する粒度分布測定用サンプリング装置。
IPC (3件):
G01N15/02
, G01N1/02
, G01N1/04
FI (4件):
G01N15/02 A
, G01N1/02 J
, G01N1/04 D
, G01N1/04 M
Fターム (12件):
2G052AA04
, 2G052AC19
, 2G052AC21
, 2G052AD04
, 2G052AD24
, 2G052AD52
, 2G052BA03
, 2G052BA13
, 2G052CA04
, 2G052EA04
, 2G052EA11
, 2G052GA11
引用特許:
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