特許
J-GLOBAL ID:200903004345863878
検査システムと共に用いるための画像処理システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 大塚 就彦
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-506564
公開番号(公開出願番号):特表2004-502250
出願日: 2001年06月25日
公開日(公表日): 2004年01月22日
要約:
検査システムは、複数のモデルを含み、各種別のモデルの有効性を高めるようにこれらを適用する。一実施形態では、印刷回路基板検査システムは、画像モデル、構造モデル、および幾何学モデルを含み、対象物を検査する。最初に画像モデルを検査対象物に適用し、同様に見える対象物を識別する。画像モデルを適用した後、構造モデルを適用し、画像内に同一構造を有する対象物が存在するか否か判定を行い、画像モデルが本当に画像内において部品を発見したのか否か判断を下すために用いる。最後に、幾何学モデルを適用し、前述の2つのモデルによって提供される近似位置データを用いて、検査対象物の位置を正確に判定する。また、複数のモデルを学習し更新する技法についても記載する。
請求項(抜粋):
画像を検査し、対象領域内にある対象物に関する情報を取得する方法において、第1モデルおよび第2モデルを適用し、前記第2モデルの適用を、前記第1モデルの適用の結果に基づいて行うことを含み、前記第1モデルが、前記画像内において第1属性集合を識別することによって、前記対象領域に対象物が描写されているか否かを予測する出力を生成し、前記第2モデルが、第2の種別の属性を識別することによって、前記対象領域に特定の種別の対象物があるか否かを予測することを特徴とする方法。
IPC (5件):
G06T7/00
, G01B11/00
, G01B11/26
, G01N21/956
, G06T1/00
FI (7件):
G06T7/00 300D
, G06T7/00 300F
, G01B11/00 H
, G01B11/26 H
, G01N21/956 B
, G06T1/00 305B
, G06T1/00 305D
Fターム (55件):
2F065AA01
, 2F065AA12
, 2F065AA14
, 2F065AA17
, 2F065AA20
, 2F065AA31
, 2F065AA49
, 2F065AA51
, 2F065BB02
, 2F065CC01
, 2F065CC25
, 2F065DD04
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF41
, 2F065JJ03
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F065QQ31
, 2F065QQ41
, 2F065RR05
, 2F065RR06
, 2G051AA61
, 2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051CA04
, 2G051EB00
, 2G051ED04
, 5B057AA03
, 5B057BA02
, 5B057CD03
, 5B057CH18
, 5B057DA03
, 5B057DA07
, 5B057DB02
, 5B057DC08
, 5B057DC16
, 5B057DC19
, 5B057DC34
, 5B057DC38
, 5B057DC40
, 5L096AA02
, 5L096AA06
, 5L096BA03
, 5L096CA02
, 5L096EA16
, 5L096FA06
, 5L096FA67
, 5L096FA69
, 5L096GA30
, 5L096GA51
, 5L096JA03
, 5L096JA11
, 5L096KA04
, 5L096MA07
引用特許:
審査官引用 (5件)
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特開平3-202707
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特開平2-268380
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ビジュアル型X-Y方式インサーキットテスタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-191078
出願人:日置電機株式会社
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特開平3-202707
-
特開平2-268380
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