特許
J-GLOBAL ID：200903004495973744
制御対象の機械特性の測定装置及び測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
河宮 治
, 石野 正弘
, 川端 純市
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-019773
公開番号（公開出願番号）：特開2005-214711
出願日： 2004年01月28日
公開日（公表日）： 2005年08月11日
要約：
【課題】 モータを含む制御対象の周波数特性、共振周波数、反共振周波数、総イナーシャといった機械特性を容易に精度よく測定する。【解決手段】 モータへのトルク指令とトルク指令に対する応答であるモータ速度とをサンプリングする。各々をフーリエ変換し、その結果の差異から第1の周波数特性を算出する。トルク指令入力点からモータ速度出力点までの経路にある遅れ要素の周波数特性を減じ、第2の周波数特性を算出する。位相特性が-180度から180度の範囲に収まるようシフト処理をし、第3の周波数特性を算出する。周波数に応じた周波数幅で移動平均処理を行い、第4の周波数特性を算出する。遅れ要素の周波数特性を加算し、第5の周波数特性を算出する。第5の周波数特性を、モータを含む制御対象の周波数特性としてディスプレイ部に表示する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
モータを含む制御対象の機械特性を測定する装置であって、
前記モータへのトルク指令時系列データをフーリエ変換した第1の変換結果と、前記トルク指令時系列データに対する応答であるモータ速度時系列データをフーリエ変換した第2の変換結果との差異から前記モータを含む制御対象の周波数に対する第1のゲイン特性を算出する手段と、
周波数に応じた周波数幅に基づいて前記第1のゲイン特性を移動平均処理し第2のゲイン特性を得る手段と
を備えたことを特徴とする制御対象の機械特性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
5H501AA30
, 5H501BB20
, 5H501DD01
, 5H501JJ26
, 5H501LL35
, 5H550AA20
, 5H550BB10
, 5H550DD01
, 5H550JJ26
, 5H550LL35
