特許
J-GLOBAL ID:200903004578375954

2層積層膜およびこれを用いたパターン形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 鈴木 俊一郎 ,  牧村 浩次 ,  高畑 ちより
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-085066
公開番号(公開出願番号):特開2008-242247
出願日: 2007年03月28日
公開日(公表日): 2008年10月09日
要約:
【課題】リフトオフによる蒸着および/またはスパッタ膜の形成方法に関し、基板表面に、ライン/スペースが10μm/10μm以下のような微細パターンにおいても、アンダーカットがパターン間の下部で繋がらないようにアンダーカット形状を制御することが可能なレジストパターンを、1回の露光および現像で得て、バリのない製膜層を容易に形成することができる2層レジスト膜およびこれを形成するパターン形成方法を提供する。【解決手段】特定の樹脂組成物1と特定のポジ型感放射線性樹脂組成物2を基板表面に塗布して2層積層膜を形成し、一回の露光により2層積層膜からなるレジストに断面がアンダーカット形状をした微細パターンを形成し、次にこれをマスク材として有機あるいは無機薄膜等を蒸着および/またはスパッタし、リフトオフすることで所望の形状を有するパターンを形成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
(A)下記一般式(1)で表される構造単位を有する重合体および(C)溶剤を含有する樹脂組成物1から得られる下層(レジスト層I)と、 (D)フェノール性水酸基を有する重合体、(E)キノンジアジド基含有化合物および(G)溶剤を含有するポジ型感放射線性樹脂組成物2から得られる上層(レジスト層II)と からなることを特徴とする2層積層膜。
IPC (5件):
G03F 7/095 ,  G03F 7/26 ,  H01L 21/027 ,  G03F 7/022 ,  G03F 7/004
FI (8件):
G03F7/095 ,  G03F7/26 511 ,  H01L21/30 502R ,  H01L21/30 570 ,  H01L21/30 573 ,  G03F7/022 ,  G03F7/004 504 ,  G03F7/004 501
Fターム (27件):
2H025AA03 ,  2H025AB14 ,  2H025AB16 ,  2H025AB17 ,  2H025AC01 ,  2H025AC06 ,  2H025AD03 ,  2H025BE01 ,  2H025CB15 ,  2H025CB16 ,  2H025CB21 ,  2H025CB45 ,  2H025DA11 ,  2H025FA17 ,  2H096AA25 ,  2H096AA27 ,  2H096AA28 ,  2H096BA10 ,  2H096EA02 ,  2H096EA06 ,  2H096GA08 ,  2H096HA28 ,  2H096KA03 ,  2H096KA06 ,  2H096KA13 ,  5F046LA18 ,  5F046NA05
引用特許:
出願人引用 (1件)

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