特許
J-GLOBAL ID:200903004578375954
2層積層膜およびこれを用いたパターン形成方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
鈴木 俊一郎
, 牧村 浩次
, 高畑 ちより
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-085066
公開番号(公開出願番号):特開2008-242247
出願日: 2007年03月28日
公開日(公表日): 2008年10月09日
要約:
【課題】リフトオフによる蒸着および/またはスパッタ膜の形成方法に関し、基板表面に、ライン/スペースが10μm/10μm以下のような微細パターンにおいても、アンダーカットがパターン間の下部で繋がらないようにアンダーカット形状を制御することが可能なレジストパターンを、1回の露光および現像で得て、バリのない製膜層を容易に形成することができる2層レジスト膜およびこれを形成するパターン形成方法を提供する。【解決手段】特定の樹脂組成物1と特定のポジ型感放射線性樹脂組成物2を基板表面に塗布して2層積層膜を形成し、一回の露光により2層積層膜からなるレジストに断面がアンダーカット形状をした微細パターンを形成し、次にこれをマスク材として有機あるいは無機薄膜等を蒸着および/またはスパッタし、リフトオフすることで所望の形状を有するパターンを形成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
(A)下記一般式(1)で表される構造単位を有する重合体および(C)溶剤を含有する樹脂組成物1から得られる下層(レジスト層I)と、
(D)フェノール性水酸基を有する重合体、(E)キノンジアジド基含有化合物および(G)溶剤を含有するポジ型感放射線性樹脂組成物2から得られる上層(レジスト層II)と
からなることを特徴とする2層積層膜。
IPC (5件):
G03F 7/095
, G03F 7/26
, H01L 21/027
, G03F 7/022
, G03F 7/004
FI (8件):
G03F7/095
, G03F7/26 511
, H01L21/30 502R
, H01L21/30 570
, H01L21/30 573
, G03F7/022
, G03F7/004 504
, G03F7/004 501
Fターム (27件):
2H025AA03
, 2H025AB14
, 2H025AB16
, 2H025AB17
, 2H025AC01
, 2H025AC06
, 2H025AD03
, 2H025BE01
, 2H025CB15
, 2H025CB16
, 2H025CB21
, 2H025CB45
, 2H025DA11
, 2H025FA17
, 2H096AA25
, 2H096AA27
, 2H096AA28
, 2H096BA10
, 2H096EA02
, 2H096EA06
, 2H096GA08
, 2H096HA28
, 2H096KA03
, 2H096KA06
, 2H096KA13
, 5F046LA18
, 5F046NA05
引用特許:
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