特許
J-GLOBAL ID:200903004673885137

媒質の非線形光学応答測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-018812
公開番号(公開出願番号):特開2000-214082
出願日: 1999年01月27日
公開日(公表日): 2000年08月04日
要約:
【要約】【課題】 物質中に生じる非線形光学効果を直接的に測定することができる媒質の非線形光学応答測定装置を提供する。【解決手段】 超短パルス光源11からの光パルスを光分岐器12によって分岐して、励起光学系2及びプローブ光学系3によってそれぞれ所定の直線偏光状態を有する励起パルス及びプローブパルスとして被測定媒質4に導光する。このとき、励起パルスの入射によって被測定媒質4中に生成された、非線形光学効果による屈折率変化を生じた相互作用領域について、プローブパルスを照射し、被測定媒質4を通過した成分のうち相互作用領域を通過して偏光状態が変化したプローブパルス成分を光検出部5において検光子51を介してカメラ53で検出することによって、被測定媒質4の非線形光学応答を測定することができる。
請求項1:
光パルスによって被測定媒質内に生じる非線形光学効果を測定するための媒質の非線形光学応答測定装置であって、パルス光源によって供給された光パルスから、それぞれの出力タイミングが同期された第1の光束と第2の光束とを生成して出力する光源部と、前記第1の光束に基づいて励起パルスを形成し、前記被測定媒質に前記励起パルスを入射する励起光学系と、前記第2の光束に基づいてプローブパルスを形成し、前記被測定媒質に前記励起パルスが入射されることによって非線形光学効果が誘起された相互作用領域を含む前記被測定媒質の所定領域に前記プローブパルスを照射するプローブ光学系と、前記被測定媒質の所定領域を通過した前記プローブパルスを検出する光検出部と、を備え、前記励起光学系は、前記励起パルスを所定の偏光状態とするための励起パルス偏光手段と、前記励起パルスを前記被測定媒質に所定の入射条件によって入射させる入射光学系とを有し、前記プローブ光学系は、前記プローブパルスを所定の偏光状態とするためのプローブパルス偏光手段を有し、前記光検出部は、前記被測定媒質の所定領域を通過した前記プローブパルスのうち、所定の偏光成分のみを透過させる検光手段と、前記検光手段を透過した前記プローブパルスを検出・測定する光検出手段と、前記被測定媒質の所定領域を通過し前記検光手段を透過した前記プローブパルスを前記光検出手段に結像させる結像手段と、を有することを特徴とする媒質の非線形光学応答測定装置。
IPC (3件):
G01N 21/21 ,  G01J 11/00 ,  G01N 21/23
FI (3件):
G01N 21/21 Z ,  G01J 11/00 ,  G01N 21/23
Fターム (43件):
2G059AA02 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB08 ,  2G059DD13 ,  2G059EE04 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059GG09 ,  2G059HH09 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059LL03 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM08 ,  2G065AA11 ,  2G065AB09 ,  2G065AB10 ,  2G065AB16 ,  2G065AB23 ,  2G065BA04 ,  2G065BB02 ,  2G065BB14 ,  2G065BB28 ,  2G065BB32 ,  2G065BB33 ,  2G065BC04 ,  2G065BC13 ,  2G065BC22 ,  2G065DA02 ,  2G065DA20
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献:
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