特許

J-GLOBAL ID：200903004693132313

差込式試験端子用プラグコンタクト

発明者： 秋山 留 ,  中島 茂 ,  志萱 章宏
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  不二電機工業株式会社
代理人 (1件)： 高木 義輝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-042791
公開番号（公開出願番号）：特開平8-240614
出願日： 1995年03月02日
公開日（公表日）： 1996年09月17日
要約：

【要約】【目的】 断線防止機能に優れ、内部の接続状態を簡単に確認できるようにした差込式試験端子用プラグコンタクトの提供を目的とする。【構成】 プラグ端子接触部2にリード線Lを接続する接続手段3に、リード線Lの端末がかしめにより結合されるかしめ接続部5aと、このかしめ接続部5aと一連に形成され、プラグ端子接触部2にネジ止めされる羽子板接続部5aとを有する端子5と、プラグ端子接触部2に羽子板接続部5aをネジ止めする小ネジ6とを設け、プラグ端子接触部2の基端部と前記接続手段3とを覆う絶縁ケース4が透明であることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

プラグ端子接触部の基端部と、このプラグ端子接触部にリード線を接続する接続手段とを覆う絶縁ケースとを備える差込式試験端子用プラグコンタクトにおいて、前記接続手段に、リード線の端末がかしめにより結合されるかしめ接続部と、このかしめ接続部と一連に形成され、プラグ端子接触部にネジ止めされる羽子板接続部とを有する端子と、プラグ端子接触部に羽子板接続部をネジ止めする小ネジとを設け、前記絶縁ケースが透明であることを特徴とする差込式試験端子用プラグコンタクト。

IPC (3件)：

G01R 1/04 ,  G01R 1/06 ,  H01R 13/56

FI (3件)：

G01R 1/04 A ,  G01R 1/06 A ,  H01R 13/56

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭55-017954
  
• 電気接続装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-047264   出願人：旭電機株式会社
• 電磁接触器の充電部保護カバー
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-155477   出願人：富士電機株式会社