特許

J-GLOBAL ID：200903004820071906

検査基準設定装置及び方法、並びに、工程検査装置

発明者： 田▲崎▼ 博 ,  糀谷 和人
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (2件)： 世良 和信 ,  和久田 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-139903
公開番号（公開出願番号）：特開2006-317266
出願日： 2005年05月12日
公開日（公表日）： 2006年11月24日
要約：

【課題】工程検査において不良兆候を検出するための検査基準を適切に設定するための技術を提供する。【解決手段】情報処理装置が、工程検査の各検査項目について抽出された特徴量、及び、最終検査の判定結果を記憶手段に蓄積し、記憶手段に蓄積された複数の製品のデータから、検査項目毎若しくは検査項目の組み合わせ毎に、最終検査で良品と判定された製品群の特徴量の分布と、最終検査で不良品と判定された製品群の特徴量の分布との分離度を算出し、検査項目若しくは検査項目の組み合わせの中から、その分離度の大きさに基づいて、検査基準を再設定すべき検査項目を選択し、選択された検査項目に対して新たな検査基準を設定する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

複数の検査項目について、中間品から抽出した特徴量と所定の検査基準とを比較することにより中間品の合否を判定する工程検査と、最終工程にて完成品の良・不良を判定する最終検査とが実行される生産ラインにおいて、前記工程検査で用いられる検査基準を設定するための検査基準設定装置であって、 工程検査の各検査項目について抽出された特徴量、及び、最終検査の判定結果を記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に蓄積された複数の製品のデータから、工程検査の検査項目毎若しくは検査項目の組み合わせ毎に、その検査項目について抽出された特徴量の分布の中で最終検査で良品と判定された製品と不良品と判定された製品とがどれだけ分離して分布しているか、を示す分離度を算出する分離度算出手段と、 前記検査項目若しくは検査項目の組み合わせの中から、その分離度の大きさに基づいて、検査基準を再設定すべき検査項目を選択する設定対象選択手段と、 選択された検査項目に対して新たな検査基準を設定する検査基準設定手段と、 を備える検査基準設定装置。

IPC (4件)：

G01N 21/956 ,  G05B 19/418 ,  H05K 3/00 ,  H05K 3/34

FI (4件)：

G01N21/956 B ,  G05B19/418 Z ,  H05K3/00 Q ,  H05K3/34 512B

Fターム (30件)：

2F069AA17 ,  2F069AA60 ,  2F069AA61 ,  2F069AA71 ,  2F069AA96 ,  2F069BB13 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069NN13 ,  2F069NN25 ,  2F069NN26 ,  2G051AA61 ,  2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051AB14 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051EC02 ,  3C100AA62 ,  3C100BB15 ,  3C100BB27 ,  5E319AA03 ,  5E319AB05 ,  5E319BB05 ,  5E319CC33 ,  5E319CD26 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15 ,  5E319GG20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 実装品質分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-381844   出願人：松下電器産業株式会社