特許
J-GLOBAL ID：200903004830734296
迅速な物質特性評価のためのセンサ配列に基づくシステム及びその方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 満 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-588599
公開番号（公開出願番号）：特表2002-532717
出願日： 1999年12月10日
公開日（公表日）： 2002年10月02日
要約：
【要約】モジュール化された物質特性評価装置は、規格化された配列形式及び接触パッド形式を備える、基板上に配置されたセンサ配列を有する。センサ配列に電気的信号を送信し、センサ配列から電気的信号を受信するための電気的試験及び測定装置。規格化された配列形式中のセンサに対する電気的接触を生成するための装置。一以上の選択されたセンサ間で信号をルーティングするための装置と、電気的試験及び測定装置さらに装置オペレータを制御するために記録されたコンピュータプログラムを有するコンピュータ読取可能なコンピュータ。センサ配列は、好ましくは、センサ配列上のサンプル物質の迅速な蒸着のために、組合せ化学用途で使用された規格化された形式で配置される。内部結合装置及びセンサ及び接触パッドは、異なるセンサ形式を担持する基板を使用することにより、多数の異なる物質特性の測定を許容し、たとえあるにしても、電気的試験及び測定装置に対しては小さな変更を伴うのみである。電気装置から分離されているセンサ配列を使用することにより、さらに規格化された接触及び信号ルーティング装置を用いることによって、装置は、多数の物質特性評価機械の必要性を排除し、さらにセンサ配列内の用途で特定される活性回路要素の必要性を除外するモジュール化された“プラグアンドプレイ”システムを創造する。さらに、モジュール化センサ配列システムは、およそ時間当たり少なくとも50サンプル程度の多数の物質サンプルを迅速に特性評価することが可能であり、物質ライブラリのスクリーニングに必要とされる時間を低減する。
請求項（抜粋）：
複数のサンプルの各々の少なくとも一つの物質特性を評価するための装置であって、 基板(16)と、 前記基板(16)により支持された複数のセンサ(12)と、各センサ(12)が前記複数のサンプルの中の一つと関連し、かつ当該関連するサンプルの少なくとも一つの物質特性を評価するセンサ配列(10)と、 第一の結合部分(40)と信号を送信及び受信するための第二の結合部分(34)を有し、前記第一の結合部分は、前記複数のセンサ(12)の各々に電気的に接続され、第一の結合部分(40)で受信された信号を一つ以上の前記センサから伝達し、前記第二の結合部分(34)で受信された信号を前記センサ配列に送信するために適用される結合手段と、を備える、ことを特徴とする物質特性評価装置。
IPC (5件)：
G01N 25/18
, G01N 9/00
, G01N 11/00
, G01N 25/20
, G01N 37/00 101
G01N 25/18 J
, G01N 9/00 Z
, G01N 11/00 A
, G01N 25/20 Z
, G01N 37/00 101
2G040AA00
, 2G040AB05
, 2G040AB09
, 2G040DA01
, 2G040EA01
, 2G040ZA01
