OFDR方式の歪連続分布計測装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (4件)：大城重信 , 山田益男 , 加藤雅夫 , 佐藤文男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-387041
公開番号（公開出願番号）：特開2005-147900
出願日： 2003年11月17日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：

【課題】本発明が解決しようとする問題点は、FBGを1本の光ファイバーに複数個配置したOFDR方式による光ファイバー歪計測において、特定領域の歪みを連続情報として計測できる手段を提供すると共に、複数のFBG歪み計測部のデータの同時処理を可能とし、更には特定領域の連続した歪み情報が得られる解析法を提示することにある。【解決手段】本発明のOFDR式歪み計測装置におけるデータ解析方法は、レーザー光源の波長を変化させ、FBGからの反射光強度を検出し、横軸に波長を縦軸に反射光強度をプロットしたものに対し微小波長の区分毎のデータを抜き出して光源の波長に対応する時間毎の離散フーリエ変換を行い、時間に依存した周波数解析を行うことにより、FBGの位置を表すスペクトログラムを得る。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

光ファイバーのコア内に周期的な屈折率構造をもたせたFBGを1本の光ファイバーの所定位置に連続的に配置して、光の干渉強度の周期的変化を利用して当該FBGセンサーの位置を特定すると共に、その反射光中心波長の変化量からFBGが存在する区間の歪みや温度を連続して計測するOFDR方式の光ファイバー歪み計測装置。

IPC (4件)：

G01B11/16 , G01D5/26 , G01D21/02 , G01K11/12

FI (4件)：

G01B11/16 G , G01D5/26 D , G01D21/02 , G01K11/12 F

Fターム (26件)：

2F056VF02 , 2F056VF03 , 2F056VF11 , 2F056VF12 , 2F056VF16 , 2F056VF17 , 2F065AA02 , 2F065FF51 , 2F065GG04 , 2F065GG25 , 2F065LL02 , 2F065LL41 , 2F065QQ03 , 2F065QQ16 , 2F076BA01 , 2F076BB05 , 2F076BD06 , 2F076BD07 , 2F076BD17 , 2F076BE02 , 2F103BA37 , 2F103CA06 , 2F103EB01 , 2F103EC09 , 2F103ED27 , 2F103FA00

引用特許：

審査官引用 (1件)

波長検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-101105 出願人：富士電機株式会社

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