特許

J-GLOBAL ID：200903005095838330

プリント基板検査装置および方法

発明者： 高橋 勉
出願人/特許権者： 高橋 勉
代理人 (1件)： 石橋 佳之夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-034505
公開番号（公開出願番号）：特開2006-220552
出願日： 2005年02月10日
公開日（公表日）： 2006年08月24日
要約：

【課題】多層プリント基板のスルーホールの導通、各種パターンの導通・短絡に関して確実に検査することができ、容易に欠陥を発見することができるプリント基板検査装置および方法を得る。【解決手段】検査対象プリント基板1の対応する測定点に接触することができるように列をなして並んだ複数の電極ピン41,42を有するプローブ電極4-1,4-2を検査対象プリント基板に沿って移動させ、検査対象プリント基板の測定点に接触しかつ測定点との接触を維持しかつプローブ電極41,42の移動に追従させながら検査対象プリント基板に沿ってパッド状平面電極5-1,5-2を移動させ、各電極ピン41,42が接触する検査対象プリント基板の測定点とパッド状平面電極5-1,5-2が接触する被測定プリント基板の測定点との間の電気的導通を測定することによってこれら測定点間の欠陥を判定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

検査対象プリント基板の対応する測定点に接触することができるように複数の電極ピンが列をなして並んだプローブ電極およびこれを検査対象プリント基板に沿って移動させる駆動源と、 他の駆動源により検査対象プリント基板の測定点に接触しかつ測定点との接触を維持しながら上記検査対象プリント基板に沿って移動させられるパッド状平面電極と、 上記プローブ電極の駆動源およびパッド状平面電極の駆動源の動作を制御する制御手段と、を有していて、 上記制御手段は、検査対象プリント基板に沿って上記プローブ電極を移動させるとともにこのプローブ電極の移動に追従して上記パッド状平面電極を移動させるように上記各駆動源を制御するように構成され、 上記各プローブ電極の電極ピンが接触する検査対象プリント基板の測定点と上記パッド状平面電極が接触する被測定プリント基板の測定点との間の電気的導通を測定することによってこれら測定点間の欠陥を判定する判定手段を有していることを特徴とするプリント基板検査装置。

IPC (1件)：

G01R 31/02

FI (1件)：

G01R31/02

Fターム (4件)：

2G014AA03 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 回路基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-085726   出願人：日本合成ゴム株式会社
• プリント基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-384778   出願人：日機装株式会社