プリント基板検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：円城寺貞夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-384778
公開番号（公開出願番号）：特開2002-181870
出願日： 2000年12月19日
公開日（公表日）： 2002年06月26日
要約：

【要約】【課題】多種類のプリント基板にも迅速に対応でき、配線パターンやスルーホールの検査を短時間で実行することのできるプリント基板検査装置を提供する。【解決手段】プリント基板5の一方の面側に設けられ、前記プリント基板の配線パターンの検査部分に接触するように所定ピッチで配列された複数の線状電極を備えたブラシ状電極3と、前記プリント基板の他方の面側に前記プリント基板の配線パターンと絶縁されて設けられた平面状電極4と、前記ブラシ状電極と前記プリント基板とを所定の方向に相対的に移動させる移動手段2と、前記ブラシ状電極のそれぞれの前記線状電極と前記平面状電極との間の静電容量を検出する静電容量検出手段6と、前記移動手段および前記静電容量検出手段を制御して、前記プリント基板に設けられた配線パターンの検査を行う検査手段7とを有する。

請求項（抜粋）：

プリント基板(5)の一方の面側に設けられ、前記プリント基板(5)の配線パターンの検査部分に接触するように所定ピッチで配列された複数の線状電極(31)を備えたブラシ状電極(3)と、前記プリント基板(5)の他方の面側に前記プリント基板(5)の配線パターンと絶縁されて設けられた平面状電極(4)と、前記ブラシ状電極(3)と前記プリント基板(5)とを所定の方向に相対的に移動させる移動手段(2,22,23)と、前記ブラシ状電極(3)のそれぞれの前記線状電極(31)と前記平面状電極(4)との間の静電容量を検出する静電容量検出手段(6)と、前記移動手段(2,22,23)および前記静電容量検出手段(6)を制御して、前記プリント基板(5)に設けられた配線パターンの検査を行う検査手段(7)とを有するプリント基板検査装置。

IPC (4件)：

G01R 31/02 , G01N 27/22 , G01R 27/26 , H05K 3/00

FI (4件)：

G01R 31/02 , G01N 27/22 Z , G01R 27/26 C , H05K 3/00 V

Fターム (25件)：

2G014AA02 , 2G014AA03 , 2G014AB59 , 2G014AC10 , 2G014AC14 , 2G028AA02 , 2G028AA04 , 2G028BC01 , 2G028CG07 , 2G028HM05 , 2G028HM07 , 2G028HM08 , 2G028HN07 , 2G028HN08 , 2G028HN12 , 2G060AA09 , 2G060AE01 , 2G060AF10 , 2G060AG01 , 2G060AG11 , 2G060EA07 , 2G060EB07 , 2G060HC07 , 2G060HC13 , 2G060KA15

引用特許：

審査官引用 (11件)

回路基板検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-062046 出願人：日置電機株式会社
特開昭60-168062
特開昭60-168062

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