特許

J-GLOBAL ID：200903005193147663

電流測定方法及び光電流センサ

発明者： 一ノ瀬 祐治 ,  曽根 勇
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-122191
公開番号（公開出願番号）：特開平11-316247
出願日： 1998年05月01日
公開日（公表日）： 1999年11月16日
要約：

【要約】【課題】 ファラデ効果を利用した光電流計測に関して、ファラデ効果による測定光の位相差を相殺して電流検出感度が常に一定にするための位相変調における周波数を小さくできるようにする。【解決手段】 電流が流れる導体1を周回するように配したファラデ素子2に、二つの可干渉性の光を互いに逆方向で伝播させ、この逆方向で伝播する両光に生じるファラデ効果を利用して導体に流れる電流を計測するについて、ファラデ効果で両光に生じる位相差を相殺するための位相変調を階段状の波形でなすようにしている。

請求項（抜粋）：

電流が流れる導体を周回するように配したファラデ素子に、二つの可干渉性の光を互いに逆方向で伝播させ、この逆方向で伝播する両光に生じるファラデ効果を利用して前記導体に流れる電流を計測する電流測定方法において、ファラデ効果で両光に生じる位相差を相殺するための位相変調を階段状の波形でなすようにしたことを特徴とする電流測定方法。

IPC (3件)：

G01R 15/24 ,  G01R 19/00 ,  G01R 33/032

FI (3件)：

G01R 15/07 B ,  G01R 19/00 V ,  G01R 33/032

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光干渉角速度計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-043450   出願人：日本航空電子工業株式会社
• 光ファイバセンサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-169273   出願人：日本航空電子工業株式会社
• 特開昭63-263469