特許
J-GLOBAL ID:200903005195792256
3次元形状測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
足立 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-122723
公開番号(公開出願番号):特開2002-318109
出願日: 2001年04月20日
公開日(公表日): 2002年10月31日
要約:
【要約】【課題】測定精度の向上を図った3次元形状測定方法を得る。【解決手段】周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子1〜3毎に色を変えて被測定物に格子パターンを同時に投影する。そして、被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像を撮像し、格子像から各色毎の1次元格子成分に分離し、各1次元格子成分毎に位相を検出して、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る。また、白色光により被測定物を撮像して、被測定物の色情報をも計測する。
請求項(抜粋):
3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子毎に色を変えて前記被測定物に前記格子パターンを同時に投影し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像を撮像し、該格子像から前記各色毎の前記1次元格子成分に分離し、前記各1次元格子成分毎に位相を検出して、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法。
IPC (2件):
G01B 11/24
, G06T 1/00 315
FI (3件):
G06T 1/00 315
, G01B 11/24 A
, G01B 11/24 K
Fターム (21件):
2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD04
, 2F065DD06
, 2F065FF07
, 2F065GG02
, 2F065HH12
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL41
, 2F065QQ16
, 2F065QQ31
, 2F065QQ33
, 5B057AA20
, 5B057BA02
, 5B057BA19
, 5B057CE06
, 5B057DA17
, 5B057DB02
, 5B057DC19
, 5B057DC36
引用特許:
審査官引用 (2件)
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3次元情報入力カメラ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-100598
出願人:ミノルタ株式会社
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3次元形状測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-050566
出願人:株式会社オプトン
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