特許
J-GLOBAL ID:200903005195792256

3次元形状測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 足立 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-122723
公開番号(公開出願番号):特開2002-318109
出願日: 2001年04月20日
公開日(公表日): 2002年10月31日
要約:
【要約】【課題】測定精度の向上を図った3次元形状測定方法を得る。【解決手段】周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子1〜3毎に色を変えて被測定物に格子パターンを同時に投影する。そして、被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像を撮像し、格子像から各色毎の1次元格子成分に分離し、各1次元格子成分毎に位相を検出して、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る。また、白色光により被測定物を撮像して、被測定物の色情報をも計測する。
請求項(抜粋):
3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子毎に色を変えて前記被測定物に前記格子パターンを同時に投影し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像を撮像し、該格子像から前記各色毎の前記1次元格子成分に分離し、前記各1次元格子成分毎に位相を検出して、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315
FI (3件):
G06T 1/00 315 ,  G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K
Fターム (21件):
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF07 ,  2F065GG02 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL41 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057BA19 ,  5B057CE06 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5B057DC19 ,  5B057DC36
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 3次元情報入力カメラ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-100598   出願人:ミノルタ株式会社
  • 3次元形状測定方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-050566   出願人:株式会社オプトン

前のページに戻る