特許
J-GLOBAL ID：200903005335529429
粒子分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-247587
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090156
出願日： 1996年09月19日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 分析装置から出力される分布図の評価・判定を容易にすること。【解決手段】 粒子の特徴を表わすパラメータを検出する検出部と、検出されたパラメータを処理する処理部と、処理部による処理結果を出力する出力部を備え、処理部は、検出部によって検出されたパラメータについての分布図を作成する分布図作成部と、予め所定の参照用パターン図を格納した領域記憶部と、前記分布図に前記参照用パターン図を加えて出力部に出力させる制御部を備えた粒子分析装置。
請求項（抜粋）：
粒子の特徴を表わすパラメータを検出するための検出部と、検出されたパラメータを処理する処理部と、処理部による処理結果を出力する出力部を備え、処理部は、検出部によって検出されたパラメータについての分布図を作成する分布図作成部と、予め所定の参照用パターン図を格納した領域記憶部と、前記分布図に前記参照パターン図を加えて出力部に出力させる制御部を備えた粒子分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/00 B
, G01N 33/49 E
