特許
J-GLOBAL ID:200903005342503176
特性の異なる二つの圧力測定系による変動圧力の合成測定装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
川井 治男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-033359
公開番号(公開出願番号):特開2002-236071
出願日: 2001年02月09日
公開日(公表日): 2002年08月23日
要約:
【要約】【課題】レシプロエンジンなどのように吸入系、排気系およびシリンダ内の圧力が時間とともに変化している条件で圧力の直流成分から20kHzを超えるような高い周波数成分まで測定する場合に、一連の測定値として出力可能な圧力測定装置を開発する【解決手段】圧電素子の特性を利用したピエゾセンサ6と応力ひずみによる抵抗変化を利用した歪ゲージセンサ16とを組み合わせて、直流分を主に歪ゲージセンサ16で検出し直流増幅器18で直流増幅し、高い周波数成分をピエゾセンサ6で検出しチャージアンプ8で増幅して測定する。このとき二つの測定値をある周波数領域で調整して合成し、直流成分から20kHz以上の周波数成分まで一連の測定値として出力する
請求項(抜粋):
コンプレッサや内燃機関のように容積型作動機関の吸入系、排気系または作動室内の圧力測定において、圧力の直流成分から比較的低周波領域までの成分を基準値に対して正確に測定できる低周波圧力測定系と、直流成分の測定は困難でも高周波成分は20kHz以上の高い周波数成分まで相対値として正確に測定できる高周波圧力測定系とによって、基準圧力例えば大気圧力に対する相対圧力としての測定値を求める装置において、高周波圧力測定系の測定値と低周波圧力測定系のゲインを調整して測定値をそれぞれ解析し、特定の低い周波数領域において低周波圧力測定系の測定値と高周波圧力測定系の測定値が一致する予め定めた周波数またはそのデータから求めた周波数を定め、この周波数より低い周波数領域においては低周波圧力測定系の解析値を、この周波数より高い周波数領域においては高周波圧力測定系の解析値を、それぞれ採択して直流成分から20kHz以上の高い周波数成分までを合成して、広い周波数領域の圧力波形を構成して、直流成分についても高周波成分についても正確な圧力測定値が得られる変動圧力の合成測定装置。
IPC (3件):
G01L 23/10
, F02D 45/00 364
, G01L 23/18
FI (3件):
G01L 23/10
, F02D 45/00 364 D
, G01L 23/18
Fターム (17件):
2F055AA22
, 2F055BB01
, 2F055BB03
, 2F055BB14
, 2F055CC60
, 2F055DD20
, 2F055EE11
, 2F055EE23
, 2F055FF11
, 2F055GG44
, 2F055GG46
, 2F055GG47
, 3G084BA18
, 3G084EA01
, 3G084EA02
, 3G084FA00
, 3G084FA11
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
差圧流量計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-271604
出願人:日産自動車株式会社
審査官引用 (1件)
-
差圧流量計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-271604
出願人:日産自動車株式会社
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