特許
J-GLOBAL ID：200903005391430206
実装基板の外観検査装置および外観検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-329948
公開番号（公開出願番号）：特開平11-160044
出願日： 1997年12月01日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：
【要約】【課題】 複数の検査機によって検査された場合でも不良個所の確認に重複した手間を要しない実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供する。【解決手段】 電子部品の有無や位置ずれを対象とする第1の判定手段と、電子部品の半田付け部の不良を対象とする第2の判定手段を含む複数の判定手段により実装基板を検査して各判定対象について良否の判定を行う実装基板の外観検査方法において、第1の判定手段および第2の判定手段を含む複数の判定手段の判定結果を第1の記憶部41に記憶させ、記憶された判定結果を検査結果処理部44により同一の実装基板についての単一の最終検査結果として合成処理して第3の記憶部43に記憶させておき、この最終検査結果を必要に応じて表示手段46、プリンター47により出力するようにした。
請求項（抜粋）：
実装基板に実装された電子部品の有無や位置ずれを主な判定対象とする第1の判定手段と、電子部品を実装基板に接合する半田付け部の形状不良を主な判定対象とする第2の判定手段と、第1の判定手段および第2の判定手段の判定結果を記憶する判定結果記憶部と、この判定結果記憶部に記憶された判定結果を同一の実装基板についての単一の最終検査結果として合成処理する検査結果処理部と、この最終検査結果を出力する出力手段とを備えたことを特徴とする実装基板の外観検査装置。
引用特許：
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