特許
J-GLOBAL ID：200903005437261617

光断層画像化装置

発明者：
戸井田 昌宏

戸井田 昌宏 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-289122
公開番号（公開出願番号）：特開2007-101266
出願日： 2005年09月30日
公開日（公表日）： 2007年04月19日
要約：
【課題】光コヒーレンストモグラフィー計測において、測定開始位置の調整を短時間かつ簡便に行う。【解決手段】制御手段70は、測定対象Sの深さ方向の断層画像の取得を開始する測定開始位置を調整する測定開始位置調整モードと、測定対象の断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える機能を有している。そして、制御手段70は、画像取得モード時には光源ユニット10が光源ユニット10Aからレーザ光Lを射出し、干渉光検出手段40および画像取得手段50がレーザ光Lによる干渉光L4を検出するように制御する。一方、測定開始位置調整モード時には制御手段70は光源ユニット10のASE光源10BがASE光L10を射出し、干渉光検出手段40および画像取得手段50が光路長調整手段20における光路長の調整により各深さ位置のASE光L10による干渉光L4を検出するように制御する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置において、 光を射出する光源ユニットと、 該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 該光分割手段により分割された前記測定光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、 前記光分割手段により分割された前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、 該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、 該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の各深さ位置における前記測定光の反射強度を検出し前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、 前記測定対象の深さ方向について断層画像信号を得る位置を調整する測定開始位置調整モードと、前記測定対象の断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える制御手段と を有し、 前記光源ユニットが、一定の波長帯域を有する光を射出する光源と、該光源から射出される波長を選択する波長選択手段とを備えたものであり、 該制御手段が、前記画像取得モード時には、波長を一定の周期で掃引させながら前記レーザ光が射出されるように前記波長選択手段を制御するとともに、該レーザ光による前記干渉光から前記断層画像信号を取得するように前記画像取得手段を制御し、前記測定開始位置調整モード時には、一定の波長帯域の前記光が射出されるように前記波長選択手段を制御するとともに、前記一定の波長帯域の光による前記干渉光から前記断層画像信号を取得するように前記画像取得手段を制御するものであることを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (4件)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  G01B 11/24 ,  A61B 1/00
FI (4件)：
G01N21/17 630 ,  A61B10/00 E ,  G01B11/24 D ,  A61B1/00 300D
Fターム (60件)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065FF51 ,  2F065GG25 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL15 ,  2F065LL42 ,  2F065LL62 ,  2F065LL67 ,  2F065MM15 ,  2F065MM25 ,  2F065MM28 ,  2F065NN05 ,  2F065NN06 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ44 ,  2F065SS13 ,  2F065UU07 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE10 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059LL10 ,  2G059MM01 ,  2G059PP04 ,  4C061AA00 ,  4C061BB07 ,  4C061CC07 ,  4C061DD00 ,  4C061FF46 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51 ,  4C061MM09 ,  4C061NN05 ,  4C061SS30 ,  4C061WW04 ,  4C061WW11 ,  4C061XX02
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 光イメージング装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-374702   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 米国特許第5565986号明細書

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