特許

J-GLOBAL ID：200903005643606655

ATM試験方法とATM試験システム及び導通試験装置

発明者： 関根 源一郎
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-189063
公開番号（公開出願番号）：特開2000-022690
出願日： 1998年07月03日
公開日（公表日）： 2000年01月21日
要約：

【要約】【課題】 網運用コストを低減し、網運用を単純にし、ループバック設定時間も試験時のみとすることで最小となり、サービス中断時間を短くすることを課題とする。【解決手段】 ATM(非同期転送モード)区間とSTM(同期転送モード)区間との双方が含まれる区間の伝送路の接続を確かめる導通試験装置において、ATM網に配置されたATM装置には、前記ATM網にループバックIDと試験セルとを挿入する試験セル送信部と、前記ATM網からのループバックしてきた前記ループバックIDと前記試験セルとを検出する試験セル受信部と、前記試験セル送信部へループバックの試験セルの送出を指示し、前記試験セル受信部からのデータ誤り率を検出する試験制御部とを備え、前記試験セルは前記ATM網に接続されたSTM網に接続されたループバック回路に送出して返却されることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

ATM(非同期転送モード)区間とSTM(同期転送モード)区間との双方が含まれる区間の伝送路の接続を確かめる導通試験装置において、ATM網に配置されたATM装置には、前記ATM網にループバックIDと試験セルとを挿入する試験セル送信部と、前記ATM網からのループバックしてきた前記ループバックIDと前記試験セルとを検出する試験セル受信部と、前記試験セル送信部へループバックの試験セルの送出を指示し、前記試験セル受信部からのデータ誤り率を検出する試験制御部とを備え、前記試験セルは前記ATM網に接続されたSTM網に接続されたループバック回路に送出して返却されることを特徴とする導通試験装置。

IPC (4件)：

H04L 12/26 ,  H04L 12/28 ,  H04L 12/66 ,  H04Q 3/00

FI (4件)：

H04L 11/12 ,  H04Q 3/00 ,  H04L 11/20 D ,  H04L 11/20 B

Fターム (8件)：

5K030GA14 ,  5K030HA10 ,  5K030HB29 ,  5K030JA06 ,  5K030JA08 ,  5K030KX30 ,  5K030MB05 ,  5K030MC02

引用特許：

審査官引用 (1件)

• ループバック試験制御方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-285000   出願人：エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション