特許
J-GLOBAL ID:200903005810018302
撮像素子の欠陥画素補正装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
香取 孝雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-045896
公開番号(公開出願番号):特開2000-244823
出願日: 1999年02月24日
公開日(公表日): 2000年09月08日
要約:
【要約】【課題】 撮像素子に欠陥画素となる欠陥セルが連続して複数発生している場合でもその欠陥画素の値を適切に補正する欠陥画素補正装置を提供。【解決手段】 ディジタルカメラ10に備えられたディジタル信号処理部20に、撮像素子 (CCD)12にて撮像され、アナログ・ディジタル変換部18にてディジタル信号に変換された画像データが供給されると、これらデータがフレームメモリ(FM)21に格納され、座標メモリ28に記憶されている撮像素子12の欠陥画素を示す座標データをメモリ21の記憶アドレスに変換した位置情報114 が信号処理部20に制御部22より供給されると、位置情報114 の示す対象画素を補間処理する際に、対象画素に隣接する隣接画素が欠陥画素であるか否かが判定され、欠陥画素である隣接画素を使用せず、正常な隣接画素の画素値が採用されてこれら値の平均値が求められて対象画素の記憶アドレスに書き込まれ、処理対象の欠陥画素の画素値が補間される。
請求項(抜粋):
撮像素子から出力される画素信号を入力して、該撮像素子における欠陥画素による前記画素信号の欠陥画素値を補正する撮像素子の欠陥画素補正装置において、該装置は、前記画素信号を所定の記憶領域に記憶する信号記憶手段と、前記撮像素子における欠陥画素に対応する画素信号が前記記憶領域に記憶されている記憶位置を取得する欠陥座標取得手段と、前記記憶領域の前記記憶位置に記憶された欠陥画素の画素信号であって処理対象となる画素信号に前記撮像素子において隣接する第1の隣接画素の隣接画素位置を算出する隣接画素算出手段と、前記第1の隣接画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥判定手段と、該欠陥判定手段の判定結果に応じて、前記隣接画素位置に記憶されている画素信号に基づいて、前記処理対象の欠陥画素による画素信号の画素値を補正する補正手段とを含むことを特徴とする撮像素子の欠陥画素補正装置。
IPC (3件):
H04N 5/335
, G06T 1/00
, H04N 9/07
FI (3件):
H04N 5/335 P
, H04N 9/07 A
, G06F 15/64 400 E
Fターム (41件):
5B047AB02
, 5B047AB04
, 5B047BB04
, 5B047BB06
, 5B047CB21
, 5B047DA06
, 5B047EA01
, 5B047EB13
, 5C024AA01
, 5C024BA00
, 5C024BA01
, 5C024CA09
, 5C024CA21
, 5C024DA01
, 5C024DA05
, 5C024FA01
, 5C024GA01
, 5C024GA11
, 5C024HA01
, 5C024HA07
, 5C024HA12
, 5C024HA14
, 5C024HA17
, 5C024HA19
, 5C024HA21
, 5C024HA24
, 5C065AA01
, 5C065AA03
, 5C065BB01
, 5C065BB12
, 5C065BB23
, 5C065CC01
, 5C065CC08
, 5C065DD02
, 5C065GG01
, 5C065GG12
, 5C065GG17
, 5C065GG18
, 5C065GG26
, 5C065GG30
, 5C065GG32
引用特許:
審査官引用 (8件)
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固体撮像素子の欠陥補正装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-155662
出願人:ソニー株式会社
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画像欠陥補正回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-042395
出願人:日立電子株式会社
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特開平4-323977
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撮像素子の欠陥画素補正処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-200419
出願人:東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝
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電子カメラ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-328475
出願人:コニカ株式会社
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特開平4-323977
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欠陥画素補正装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-003887
出願人:シャープ株式会社
-
画素欠陥補正方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-175596
出願人:ソニー株式会社
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