特許
J-GLOBAL ID:200903005867639508
光のコヒーレンス低減方法及びその装置、並びに、照明方法及びその装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
逢坂 宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-137823
公開番号(公開出願番号):特開平11-326827
出願日: 1998年05月20日
公開日(公表日): 1999年11月26日
要約:
【要約】【課題】 コヒーレント光のコヒーレンスを低減させるに際し、分岐した光ビームにコヒーレント長以上の光路長差を与えなくても、コヒーレンスを十分に低減すること。【解決手段】 複数の互いに異なる波長で発振したマルチモードレーザー光を複数に分割し、分岐された複数のマリチモードレーザー光の間に、下記式1を満たすような一定の光路長差Lを与え、前記複数のマルチモードレーザー光を同一面上に配列させる。c〔nτd +τt /2〕≦L≦c〔(n+1)τd -τt /2〕...式1(但し、前記式1において、cは光が伝搬する媒質中での光速度、nは任意の自然数を示す。)
請求項(抜粋):
複数の互いに異なる波長で発振した光ビームを複数に分岐し、分岐されたこれらの複数の光ビームの間に一定の光路長差を与えた後、前記複数の光ビームを単一の光束又は集合光束とする、光のコヒーレンス低減方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G02B 27/10
, G02B 27/00 V
引用特許:
審査官引用 (8件)
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微小欠陥検出方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-019489
出願人:株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
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特開昭61-262327
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特開昭61-262327
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特開平1-292821
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特開平1-292821
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表面状態検査装置及び該装置を備える露光装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-188436
出願人:キヤノン株式会社
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特開昭61-262327
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特開平1-292821
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