テスタ

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大塚康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-201987
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171528
出願日： 1999年07月15日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：

【要約】【課題】半導体装置の入出力ピンから出力されるデータ間のデータスキューを測定し得るテスタを提供するにある。【解決手段】データ入出力ピン及び制御信号入力ピンを具備した半導体装置をテストするためのテスタにおいて、前記データ入出力ピンから出力される所定数のデータを排他的論理和する第1信号発生手段と、前記データ入出力ピンから出力される所定数のデータを非排他的論理和する第2信号発生手段と、前記第1信号発生手段の出力信号に応じてセットされ前記第2信号発生手段の出力信号に応じてリセットされる信号を発生する第3信号発生手段とを備える。

請求項（抜粋）：

データ入出力ピン及び制御信号入力ピンを備えた半導体装置をテストするためのテスタにおいて、前記データ入出力ピンから出力される2個のデータの状態が同一である場合は第1状態の信号を発生し、該2個のデータの状態が互いに異なる場合は第2状態の信号を発生する第1信号発生手段と、前記データ入出力ピンから出力される2個のデータの状態が互いに異なる場合は第1状態の信号を発生し、該2個のデータの状態が同一である場合は第1状態の信号を発生する第2信号発生手段と、前記第1信号発生手段の出力信号に応じてセットされ、前記第2信号発生手段の出力信号に応じてリセットされる信号を発生する第3信号発生手段と、を備えることを特徴とするテスタ。

IPC (4件)：

G01R 31/28 , G01R 31/319 , H01L 27/04 , H01L 21/822

FI (3件)：

G01R 31/28 P , G01R 31/28 R , H01L 27/04 T

引用特許：

出願人引用 (6件)

半導体集積回路装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-273912 出願人：株式会社日立製作所, 日立コンピュータエンジニアリング株式会社
特開昭49-012743
特開昭63-233382

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審査官引用 (3件)

半導体集積回路装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-273912 出願人：株式会社日立製作所, 日立コンピュータエンジニアリング株式会社
特開昭49-012743
特開昭49-012743

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