特許
J-GLOBAL ID：200903006018585190
大気圧レーザイオン化質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-135256
公開番号（公開出願番号）：特開2004-340646
出願日： 2003年05月14日
公開日（公表日）： 2004年12月02日
要約：
【課題】多量のサンプルを効率良くハイスループットに測定する大気圧レーザイオン化質量分析装置を提供することにある。【解決手段】大気圧下で試料に対してレーザを照射しイオン化を行うイオン源と、当該イオン源によって生成されたイオンを質量分析する質量分析部と、装置の測定条件等を設定し且つ測定結果を表示する表示部を有するデータ処理部を備えたレーザイオン化質量分析装置において、前記イオン源部は、測定対象試料を連続的に滴下するノズルと、前記滴下された試料が載せられる移動可能なサンプル台と、当該サンプル台を覆う形状であり電圧が印加されるカバー部材と、不活性ガスを噴霧する噴霧部を備え、レーザ照射位置に対して、前記サンプル台を移動させることで、連続的にイオン化を行う。【効果】大気圧下においても複数の試料を連続的にレーザイオン化し、質量分析することが出来る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
大気圧下で試料に対してレーザを照射しイオン化を行うイオン源と、当該イオン源によって生成されたイオンを質量分析する質量分析部と、装置の測定条件等を設定し且つ測定結果を表示する表示部を有するデータ処理部を備えた大気圧レーザイオン化質量分析装置において、
前記イオン源部は、
測定対象試料を連続的に滴下するノズルと、前記滴下された試料が載せられる移動可能なサンプル台と、当該サンプル台を覆う形状であり電圧が印加されるカバー部材と、不活性ガスを噴霧する噴霧部を備え、
レーザ照射位置に対して、前記サンプル台を移動させることで、連続的にイオン化を行うことを特徴とする大気圧レーザイオン化質量分析装置。
IPC (3件)：
G01N27/62
, G01N27/64
, H01J49/16
G01N27/62 V
, G01N27/64 B
, H01J49/16
5C038GG07
, 5C038GH05
, 5C038GH06
, 5C038GH17
